Студопедия — Описание лабораторной установки. Лабораторный стенд предназначен для снятия СМХ различных образцов электрооптических материалов ( кристаллы Bi12GeO20
Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Описание лабораторной установки. Лабораторный стенд предназначен для снятия СМХ различных образцов электрооптических материалов ( кристаллы Bi12GeO20






 

Лабораторный стенд предназначен для снятия СМХ различных образцов электрооптических материалов (кристаллы Bi12GeO20, LiNbO3 и ЦТСЛ) и определения полуволнового напряжения для этих образцов. Этот стенд позволяет наглядно сравнить различные виды электрооптических эффектов в этих материалах.

В лабораторной установке, состоящей из источника излучения (ГН-2П), столика с образцами, пластинки анализатора, фотоприемника (ФД-10К), микровольтметра (В7-28) и источника питания (ТВ-2) линейно поляризованное излучение лазера проходит через один из образцов, находящихся на столике, проходя пластинку анализатора попадает на фотоприемник и регистрируется микровольтметром. Изменяя напряжение источника питания и снимая показания микровольтметра, можно построить СМХ всех образцов.

Описание лабораторной установки

Управлять разностью фаз можно с помощью электрического поля (2.21), используя соответствующие среды (например ADP).

СМХ (2.23), (2.24) для DKDP (ADP) и LTA можно построить, измерив пропускание модулятора в зависимости от прикладываемого напряжения в лабораторной установке, собранной по схеме рис.2.4.

Для этого эксперимента лабораторный стенд, см. фото 1, содержит источник напряжения драйвер (MODEL 3030C или HVA-100K 300 В), модулятор - MODEL 28 (ADP) или MODEL 13 (LTA), Не-Ne лазер с мкм, приемник излучения и микроамперметр. Дополнительных поляризаторов не требуется для ADP, т.к. излучение лазера линейно поляризовано, а на корпусе модулятора после кристаллов ADP установлена поляризационная призма MODEL 19. В случае же LTA модулятора – призма Глана-Томсона (фото 1).

                       
 
Фотодиод
   
Поляризатор
 
LTA модулятор
 
He-Ne лазер
 
 
   
Фото 1


               
   
     
 
 
   
Фото 2


Порядок проведения работы

1. Установку для измерения СМХ включает преподаватель.

2. Измерение пропускания модуляторов ADP и LTA:

а) убедиться, что излучение лазера, проходящее через модулятор, попадает на фотодиод (см. Фото 1).

б) установить на источнике питания смещение 0 В по индикатору драйвера, затем:

- плавным вращением ручки ручной регулировки смещения выставить минимальное напряжение по шкале вольтметра, подключенного к усилителю и снять отсчет. Затем еще увеличить напряжение и снять отсчет. Занести ре Определяем полуволновое напряжение: по микроамперметру фиксируем минимальное и максимальное значение сигнала с фотоприемника и отмечаем соответствующие им напряжения смещения. Umin и Umax. Разница Umax- Umin=U

- разбиваем интервал U на 15 отсчетов и, изменяя напряжение на модуляторе от Umin до Umax с шагом U /15, записываем значения сигнала с приемника в таблицу:

 

N опыта   ...  
U ПРИЕМНИКА      
U ADP      

 

- затем, нормируя на максимальное значение сигнала (из табл.) и вычитая минимальное (фоновое), получаем значение =(Ui- Umin)/(Umax- Umin).

3. Далее строим график в координатах UМ = UADP, , примерный вид которого показан на графике рис. 2.14.

 

U

 

 
 
Рис. 2.14


4. После того, как опыт закончен, нужно вернуть все регуляторы и переключатели источника питания в первоначальное положение (убрать напряжение) и выключить прибор.

5. Через 3 минуты после выключения источника питания можно отключить высоковольтный разъем от измеряемого образца и подключить к следующему образцу.

6. Повторить п. 2-5 для ADP образца (фото 2), поставив фотодиод после соответствующего модулятора.







Дата добавления: 2015-10-18; просмотров: 567. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!



Картограммы и картодиаграммы Картограммы и картодиаграммы применяются для изображения географической характеристики изучаемых явлений...

Практические расчеты на срез и смятие При изучении темы обратите внимание на основные расчетные предпосылки и условности расчета...

Функция спроса населения на данный товар Функция спроса населения на данный товар: Qd=7-Р. Функция предложения: Qs= -5+2Р,где...

Аальтернативная стоимость. Кривая производственных возможностей В экономике Буридании есть 100 ед. труда с производительностью 4 м ткани или 2 кг мяса...

Определение трудоемкости работ и затрат машинного времени На основании ведомости объемов работ по объекту и норм времени ГЭСН составляется ведомость подсчёта трудоёмкости, затрат машинного времени, потребности в конструкциях, изделиях и материалах (табл...

Гидравлический расчёт трубопроводов Пример 3.4. Вентиляционная труба d=0,1м (100 мм) имеет длину l=100 м. Определить давление, которое должен развивать вентилятор, если расход воздуха, подаваемый по трубе, . Давление на выходе . Местных сопротивлений по пути не имеется. Температура...

Огоньки» в основной период В основной период смены могут проводиться три вида «огоньков»: «огонек-анализ», тематический «огонек» и «конфликтный» огонек...

Измерение следующих дефектов: ползун, выщербина, неравномерный прокат, равномерный прокат, кольцевая выработка, откол обода колеса, тонкий гребень, протёртость средней части оси Величину проката определяют с помощью вертикального движка 2 сухаря 3 шаблона 1 по кругу катания...

Неисправности автосцепки, с которыми запрещается постановка вагонов в поезд. Причины саморасцепов ЗАПРЕЩАЕТСЯ: постановка в поезда и следование в них вагонов, у которых автосцепное устройство имеет хотя бы одну из следующих неисправностей: - трещину в корпусе автосцепки, излом деталей механизма...

Понятие метода в психологии. Классификация методов психологии и их характеристика Метод – это путь, способ познания, посредством которого познается предмет науки (С...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.01 сек.) русская версия | украинская версия