В. Отыскание левосторонней и двусторонней критических областейОтыскание левосторонней и двусторонней критических областей сводится (так же, как и для правосторонней) к нахождению соответствующих критических точек. Левосторонняя критическая область определяется (см. § 4) неравенством К < kKP (kKP < 0). Критическую точку находят исходя из требования, чтобы при справедливости нулевой гипотезы вероятность того, что критерий примет значение, меньшее k^, была равна принятому уровню значимости: Р(К< *кр)=а- Двусторонняя критическая область определяется (см. § 4) неравенствами К <kt, К > Критические точки находят исходя из требования, чтобы при справедливости нулевой гипотезы сумма вероятностей того, что критерий примет значение, меньшее или большее ktt была равна принятому уровню значимости: P(K<k1) + P{K>kt)=a. (*) Ясно, что критические точки могут быть выбраны бесчисленным множеством способов. Если же распределение критерия симметрично относительно нуля и имеются основания (например, для увеличения мощности*’) выбрать симметричные относительно иуля точки — kKV и /гкр (&кр > 0), то Р {К < —/гкр) — Я (АГ > /гкр)* Учитывая (*), получим Р {К > kKV) = а/2. Это соотношение и служит для отыскания критических точек двусторонней критической области. Как уже было указано (см. § 5), критические точки находят по соответствующим таблицам.
|
