ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №51. Каким образом при обработке и анализе изображений может быть использовано преобразование Фурье? 2. Каким образом реализуется режим сканирующей туннельной спектроскопии? 3. Какие дополнительные конструкционные компоненты используются в атомно-силовом микроскопе при реализации режима атомно-силовой акустической микроскопии? 4. В чем заключается основная идея реализации сканирующей ближнепольной оптической микроскопии, обеспечивающая многократное увеличение разрешающей способности методики?
Составитель____________________ Никиян А.Н. Заведующий кафедрой ___________ Алиджанов Э.К. «10» мая 20 12 г
|
