Вывод: В ходе данной лабораторной работы были изучены шумовые процессы, протекающие в полупроводниковом приборе путем измерения его характеристик при различных значениях прикладываемого напряжения и при различных уровнях фоновой подсветки. Были построены графики зависимости шумового напряжения от частоты и прикладываемого напряжения. Было отмечено из графиков, что фоновая подсветка значительно уменьшает значение шумового напряжения в полупроводниковом образце. В итоге работы можно сказать, что исследуемый образец является фотодиодом, что подтверждается экспериментальными зависимостями.
Кардиналистский и ординалистский подходы Кардиналистский (количественный подход) к анализу полезности основан на представлении о возможности измерения различных благ в условных единицах полезности...
Обзор компонентов Multisim Компоненты – это основа любой схемы, это все элементы, из которых она состоит. Multisim оперирует с двумя категориями...