Студопедия — ВИЗНАЧЕННЯ ДОВЖИНИ ХВИЛІ ЛАЗЕРНОГО ВИПРОМІНЮВАННЯ МЕТОДОМ ІНТЕРФЕРЕНЦІЇ СВІТЛА У БІПРИЗМІ ФРЕНЕЛЯ
Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

ВИЗНАЧЕННЯ ДОВЖИНИ ХВИЛІ ЛАЗЕРНОГО ВИПРОМІНЮВАННЯ МЕТОДОМ ІНТЕРФЕРЕНЦІЇ СВІТЛА У БІПРИЗМІ ФРЕНЕЛЯ






 

Мета роботи: Визначити довжину хвилі лазерного випромінювання методом інтерференції світла у біпризмі Френеля.

Прилади та обладнання:

1) Оптична лава, яка має лінійку.

2) Лазер.

3) Джерело живлення лазера.

4) Щільова діафрагма (ширина щілини повільно регулюється у межах 0-4 мм).

5) Біпризма Френеля з кутом заломлення ( = 18¢ = 5, 24·10-3 рад та показником заломлення n = 1, 5).

6) Короткофокусна збиральна лінза з фокусною відстанню f = 35, 83 мм.

7) Непрозорий екран з горизонтальною та вертикальною шкалами з міліметровими поділками.

Опис методу та установки

Мета цієї роботи – ознайомлення з явищем інтерференції світлових хвиль у схемі з біпризмою Френеля та вимірювання довжини хвилі лазерного випромінювання інтерференційним методом.

· Як джерело світлових коливань використовують лазер ЛГ – 72, який дає вузький пучок (діаметром~1, 5 мм) монохроматичного випромінювання. Потужність лазера 0, 6 мВт. Лазер живиться від джерела ИП-10, яке працює від мережі з напругою 220 В.

Біпризма Френеля являє собою дві призми з малим кутом заломлення , які додаються основами.

       
   
Екран   А   В
 
 

 


Світло від щілини S після заломлення у біпризмі поділяється на два пучки, які перекриваються та виходять із двох уявних зображень щілини S 1 та S 2, є когерентними джерелами. При цьому за призмою на екрані в області перетину пучків спостерігається інтерференційна картина у вигляді світлих і темних ліній, які чергуються та паралельні щілині S, АВ – область інтерференції.

 

 
 

При заданому значенні (в нашому випадку =18¢) відстань між сусідніми світлими лініями залежить від довжини випромінювання 0 і відстані L (рис. 2) від площини, в якій лежать уявні джерела S 1 і S 2 до площини, в якій спостерігається інтерференційна картина (площина МОN).

Нехай М – точка у площині МОN, відстань МО позначимо через Х, відстань між уявними джерелами S 1 та S 2 – через l, різницю хода променів від S 1 та S 2, тобто S 2 K через .

Оскільки L > > l, то трикутники МАО і S 1 S 2 K подібні:

(1)

Вважаючи, що АМ» L, (що дійсно, якщо X< < L) отримуємо

X = . (2)

Оскільки інтерференційні максимуми спостерігаються в тому випадку, якщо , де k = 0, ± 1, ± 2, то Х – координати максимумів (світлих ліній) визначаються з виразу (3):

Xk= (3)

Звідси знаходимо відстань між сусідніми світлими лініями:

X = Xk+1 – Xk = (4)

Вимірюючи ширину інтерференційних ліній X, відстань між уявними джерелами l і відстань від джерел до інтерференційної картини L, можна визначити довжину хвилі випромінювання у вакуумі :

(5)

 
 

Відстань між уявними джерелами l можна визначити, якщо відомо заломлення скла біпризми n= 1, 5 та її кут заломлення , відстань між щілиною і призмою d треба виміряти. Оскільки кути заломлення малі, можна з достатньою точністю рахувати, що S 1, S 2, S лежать в одній площині, яка перпендикулярна оптичній лаві.

З рис. 3 видно, що

l=2dtg »2d (6)

так як кут – малий. Кут відхилення пов’язаний із кутом заломлення формулою =(n-1) (див. Савельев И.В. Курс общей физики. – М.: Наука, 1966. Т.3, § 1).

Звідси

l=2d(n-1) (7)

Відповідно

= 2d(n-1) (8)

 
 

Для знаходження X та L на оптичній лаві (рис. 4) розміщують такі прилади: лазер 1, щільову діафрагму 2, біпризму 3, короткофокусну збиральну лінзу 4 і екран 5. Повзунки, в яких закріплені рейтери приладів, мають покажчики і можуть переміщуватися вздовж оптичної лави, на якій закріплена лінійка. Як джерело світла використовують лазер, який дає вузький монохроматичний пучок випромінювання.

Короткофокусну лінзу 4 (f = 35, 83 мм) використовують для отримання збільшеного зображення на екрані 5 інтерференційних ліній, які виникають в області між біпризмою 3 і лінзою (рис. 5).

З рисунка видно, що ширина інтерференційної лінії X з формули (8) виражається через ширину лінії на екрані наступним чином:

. (9)

Невідому відстань а можна знайти за допомогою формули для тонкої лінзи:

, (10)

звідси

, (11)

відповідно

. (12)

З рис. 5 видно, що

L = d + c -a = d + c – = . (13)

Підставляючи вирази (12) і (13) у формулу (8), отримуємо кінцеву формулу

(14)

Знаючи показник заломлення скла біпризми n= 1, 5 та кут заломлення = 5, 24·10-3 рад, фокусну відстань лінзи f = 35, 83 мм та вимірюючи ширину інтерференційної лінії на екрані , відстань b, d і с можна за формулою визначити довжину хвилі лазерного випромінювання.

 







Дата добавления: 2014-11-12; просмотров: 1922. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!



Кардиналистский и ординалистский подходы Кардиналистский (количественный подход) к анализу полезности основан на представлении о возможности измерения различных благ в условных единицах полезности...

Обзор компонентов Multisim Компоненты – это основа любой схемы, это все элементы, из которых она состоит. Multisim оперирует с двумя категориями...

Композиция из абстрактных геометрических фигур Данная композиция состоит из линий, штриховки, абстрактных геометрических форм...

Важнейшие способы обработки и анализа рядов динамики Не во всех случаях эмпирические данные рядов динамики позволяют определить тенденцию изменения явления во времени...

Шов первичный, первично отсроченный, вторичный (показания) В зависимости от времени и условий наложения выделяют швы: 1) первичные...

Предпосылки, условия и движущие силы психического развития Предпосылки –это факторы. Факторы психического развития –это ведущие детерминанты развития чел. К ним относят: среду...

Анализ микросреды предприятия Анализ микросреды направлен на анализ состояния тех со­ставляющих внешней среды, с которыми предприятие нахо­дится в непосредственном взаимодействии...

Прием и регистрация больных Пути госпитализации больных в стационар могут быть различны. В цен­тральное приемное отделение больные могут быть доставлены: 1) машиной скорой медицинской помощи в случае возникновения остро­го или обострения хронического заболевания...

ПУНКЦИЯ И КАТЕТЕРИЗАЦИЯ ПОДКЛЮЧИЧНОЙ ВЕНЫ   Пункцию и катетеризацию подключичной вены обычно производит хирург или анестезиолог, иногда — специально обученный терапевт...

Ситуация 26. ПРОВЕРЕНО МИНЗДРАВОМ   Станислав Свердлов закончил российско-американский факультет менеджмента Томского государственного университета...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.009 сек.) русская версия | украинская версия