Студопедия — УТВЕРЖДАЮ. Заведующий кафедрой физики и электроники Валюхов Д.П.
Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

УТВЕРЖДАЮ. Заведующий кафедрой физики и электроники Валюхов Д.П.






МИНИCTEPCTBO ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение

высшего профессионального образования

«СЕВЕРО-КАВКАЗСКИЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»

 

Заведующий кафедрой физики и электроники Валюхов Д.П.

__________________________

"__" _____________ 20____ г.

 

Методические рекомендации

к выполнению контрольной работы

по дисциплине «МИКРОЭЛЕКТРОНИКА»

Направление подготовки

Электроника и микроэлектроника

 

Квалификация (степень) выпускника

Бакалавр

 

 

Разработано

ст. преподаватель кафедры ФиЭ

_______________ Жданова Н.В.

"__" ____________ 20____ г.

 

 

Ставрополь, 2013


МИНИCTEPCTBO ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Федеральное государственное автономное

Образовательное учреждение высшего профессионального образования

«СЕВЕРО-КАВКАЗСКИЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»

 

Жданова Н. В.

Сидоров К. И.

 

Методические рекомендации

к выполнению контрольной работы

по дисциплине «МИКРОЭЛЕКТРОНИКА»

 

 

Направление подготовки

Электроника и микроэлектроника

 

Квалификация (степень) выпускника

Бакалавр

 

Ставрополь 2013


 

 

Жданова Н. В., Сидоров К. И.

«Микроэлектроника»:Методические рекомендации к выполнению контрольной работы. — Ставрополь: Изд-во СКФУ, 2013. – 51 с.

 

Методические рекомендации составлены для выполнения контрольной работы по дисциплине "Микроэлектроника". Изложены некоторые теоретические вопросы, приведены примеры решения задач, приведены задачи для самостоятельного решения.

Методические указания могут быть использованы как руководство при выполнении контрольной работы и для самостоятельной работы над разделами дисциплины.

 

 

© ФГАОУ ВПО «Северо-Кавказский

федеральный университет», 2013


 

СОДЕРЖАНИЕ

Предисловие 5

Тема 1 Технологические основы микроэлектроники 7

Теоретический материал 7

Примеры решения задач 9

Задачи для самостоятельного решения 10

Тема 2 Активные и пассивные элементы ИМС 15

Теоретический материал 15

Примеры решения задач 16

Задачи для самостоятельного решения 17

Тема 3 Цифровые ИМС 21

Теоретический материал 21

Примеры решения задач 26

Задачи для самостоятельного решения 29

Тема 4 Аналоговые ИМС 33

Теоретический материал 33

Примеры решения задач 43

Задачи для самостоятельного решения 44

Требования к оформлению контрольной работы 46

Рекомендуемая литература 48

Приложение 1 50

 

 


Предисловие

Целью освоения дисциплины «Микроэлектроника» является ознакомление студентов с основными задачами, принципами и направлениями развития современной микроэлектроники и возможностями применения современных достижений микроэлектроники при решении задач, возникающих в их последующей профессиональной деятельности.

Задачами курса микроэлектроники являются:

· приобретение знаний по принципам построения, функциональных возможностей, изготовления и использования МЭ в аппаратуре различного функционального назначения;

· ознакомление с конструкциями и технологиями устройств и приборов, выполненных с применением технологий микроэлектроники.

В результате освоения дисциплины обучающийся должен:

ЗНАТЬ - технические характеристики и экономические показатели отечественных и зарубежных разработок в области микроэлектроники; - технические требования, предъявляемые к материалам и готовой продукции; - конструктивно-технологические особенности различных типов интегральных схем; - методы изготовления пассивных и активных элементов интегральных микросхем; - основные разновидности аналоговых и цифровых интегральных схем и особенности их использования;
УМЕТЬ - производить расшифровку маркировки интегральных микросхем; - производить выбор элементной базы при разработке устройств микроэлектроники; - осуществлять измерение параметров интегральных микросхем и производить расчеты их элементов; - осуществлять выбор технологии изготовления элементов интегральных схем; - составлять эскизы топологии элементов интегральных микросхем.
ВЛАДЕТЬ методами экспериментального исследования характеристик устройств микроэлектроники.

 

Содержание дисциплины определено ГОС ВПО по направлению подготовки 210100.62 Электроника и микроэлектроника и отражено в блоке ОПД.Ф.09 классификация интегральных микросхем: полупроводниковые и гибридные, на биполярных и МДП-элементах; цифровые и аналоговые; малой, средней, большой и сверхбольшой степени интеграции; активные и пассивные элементы интегральных микросхем; схемотехнические структуры интегральной микроэлектроники; элементы функциональной электроники.

 


Тема 1

ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ







Дата добавления: 2015-10-12; просмотров: 442. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!



Вычисление основной дактилоскопической формулы Вычислением основной дактоформулы обычно занимается следователь. Для этого все десять пальцев разбиваются на пять пар...

Расчетные и графические задания Равновесный объем - это объем, определяемый равенством спроса и предложения...

Кардиналистский и ординалистский подходы Кардиналистский (количественный подход) к анализу полезности основан на представлении о возможности измерения различных благ в условных единицах полезности...

Обзор компонентов Multisim Компоненты – это основа любой схемы, это все элементы, из которых она состоит. Multisim оперирует с двумя категориями...

Различие эмпиризма и рационализма Родоначальником эмпиризма стал английский философ Ф. Бэкон. Основной тезис эмпиризма гласит: в разуме нет ничего такого...

Индекс гингивита (PMA) (Schour, Massler, 1948) Для оценки тяжести гингивита (а в последующем и ре­гистрации динамики процесса) используют папиллярно-маргинально-альвеолярный индекс (РМА)...

Методика исследования периферических лимфатических узлов. Исследование периферических лимфатических узлов производится с помощью осмотра и пальпации...

Прием и регистрация больных Пути госпитализации больных в стационар могут быть различны. В цен­тральное приемное отделение больные могут быть доставлены: 1) машиной скорой медицинской помощи в случае возникновения остро­го или обострения хронического заболевания...

ПУНКЦИЯ И КАТЕТЕРИЗАЦИЯ ПОДКЛЮЧИЧНОЙ ВЕНЫ   Пункцию и катетеризацию подключичной вены обычно производит хирург или анестезиолог, иногда — специально обученный терапевт...

Ситуация 26. ПРОВЕРЕНО МИНЗДРАВОМ   Станислав Свердлов закончил российско-американский факультет менеджмента Томского государственного университета...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.011 сек.) русская версия | украинская версия