Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

II. Основы кристаллографии





Кристаллография изучает формы кристаллов. Она базируется на трех основных законах.

1. Закон постоянства симметрии: все кристаллы одного минерального вида имеют одну и туже симметрию.

2. Закон постоянства углов между гранями: угол между двумя соответствующими гранями данной формы постоянен для всех кристаллов данного минерала.

3. Закон рациональных отношений (закон целых чисел): все грани кристалла отсекают на кристаллографических осях отрезки, которые или бесконечны, или относятся к отрезкам, отсекаемым единичной гранью, как небольшие целые числа.

Решетки описываются с помощью трех кристаллографических осей а, b, с. В отличие от обычных координат они имеют конечный размер и располагаются под углами, которые отличаются от 90 º. Эти оси задают длину ребер и их взаимную ориентацию в элементарной ячейке кристаллической решетки.

Элементарная ячейка – это часть кристаллической решетки, включающей все элементы симметрии, которыми обладает данный кристалл.

Кристаллическая решетка – это абстрактный математический образ, позволяющий фиксировать расположение элементов в пространстве.

Все кристаллы систематизированы на основе их симметрии. В настоящее время разработаны методы количественной оценки кристаллических решеток по их основным характеристикам.

Элементы симметрии:

1. Центр симметрии (I) – это точка, делящая пополам всякую проходящую через нее прямую, проведенную до пересечения с гранями фигуры.

2. Ось симметрии (С) – это линия, при повороте вокруг которой на 360 º фигура совпадает сама с собой n раз (n – порядок оси). Бывают оси 1, 2, 3, 4, 5 и 6 порядков. Оси пятого порядка – очень рéдки и такие кристаллы открыты недавно.

3. Плоскость симметрии (σ) – это плоскость, которая делит фигуру на две части, каждая из которых является зеркальным отражением.







Дата добавления: 2015-09-07; просмотров: 396. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!




Важнейшие способы обработки и анализа рядов динамики Не во всех случаях эмпирические данные рядов динамики позволяют определить тенденцию изменения явления во времени...


ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА Статика является частью теоретической механики, изучающей условия, при ко­торых тело находится под действием заданной системы сил...


Теория усилителей. Схема Основная масса современных аналоговых и аналого-цифровых электронных устройств выполняется на специализированных микросхемах...


Логические цифровые микросхемы Более сложные элементы цифровой схемотехники (триггеры, мультиплексоры, декодеры и т.д.) не имеют...

САНИТАРНО-МИКРОБИОЛОГИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ВОДЫ, ВОЗДУХА И ПОЧВЫ Цель занятия.Ознакомить студентов с основными методами и показателями...

Меры безопасности при обращении с оружием и боеприпасами 64. Получение (сдача) оружия и боеприпасов для проведения стрельб осуществляется в установленном порядке[1]. 65. Безопасность при проведении стрельб обеспечивается...

Весы настольные циферблатные Весы настольные циферблатные РН-10Ц13 (рис.3.1) выпускаются с наибольшими пределами взвешивания 2...

Факторы, влияющие на степень электролитической диссоциации Степень диссоциации зависит от природы электролита и растворителя, концентрации раствора, температуры, присутствия одноименного иона и других факторов...

Йодометрия. Характеристика метода Метод йодометрии основан на ОВ-реакциях, связанных с превращением I2 в ионы I- и обратно...

Броматометрия и бромометрия Броматометрический метод основан на окислении вос­становителей броматом калия в кислой среде...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2026 год . (0.011 сек.) русская версия | украинская версия