Студопедия — Варикап
Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Варикап






 

2.1 Теоретические сведения

 

2.1.1 Принцип работы и вольт-фарадная характеристика

 

Варикап предназначен для использования в качестве электрически управляемой емкости. Принцип работы варикапа основан на использовании зависимости емкости электрического перехода от напряжения. Электрический переход варикапов имеет сложную структуру типа р-n-n+, р-i-n, МДП и др.

 

 

Рисунок 2.1 – Распределение концентрации примеси (а) и вольт-фарадные характеристики (б) для сплавных(1), диффузионных (2) и планарно-эпитаксиаль­ных (3) варикапов

 

Варикапы применяют в устройствах управления частотой колебательного контура, в параметрических схемах усиления, деления и умножения частоты, в схемах частотной модуляции, управляемых фазовращателях и др. В этих устройствах предпочтение отдается варикапам на основе барьерной емкости р-n -перехода. Чаще всего желательно, чтобы емкость варикапа менялась в значительных пределах. Для этого выполняются два условия – p-n переход варикапа делается толстым (что повышает максимально допустимое рабочее напряжение) и резким (что делает наибольшим влияние напряжения на емкость). Поэтому варикапы выполняются на основе резких невырожденных p-n переходов.

При подаче на варикапы прямого напряжения к барьерной емкости p-n перехода добавляется так называемая диффузионная емкость. Однако в этом случае малое сопротивление p-n перехода шунтирует обе емкости и это катастрофически снижает добротность варикапа. Поэтому прямое включение варикапа не используется.

Как правило, варикапы изготавливаются либо в виде дискретных изделий, либо сборки из четырех приборов.

Исходным материалом для варикапов является кремний, а в последнее время – арсенид галлия. В сплавных варикапах электрический переход резкий, распределение примесей вдоль перехода по координате х, отсчитываемой от его металлургической границы, приблизительно равномерное для р+ и n -области, в диффузионных – плавное (линии 1 и 2 на рис. 2.1, а). Этим распределениям соответствуют зависимости Св = f(U) – вольт-фарадные характеристики (ВФХ) варикапа (кривые 1 и 2 на рис. 2.1, б). Эти ВФХ аппроксимируются выражением

 

, (2.1)

 

где φ0 – высота потенциального барьера p-n -перехода; т — коэффициент нелинейности ВФХ (т=0,5 для сплавных и т=0,3 для диффузионных); Св0 – емкость ва-рикапа при внешнем напряжении Uобр= 0.

Для получения более резкой зависимости Св = f (Uобр) в эпитаксиальных варикапах используются переходы со структурой р+-n-n+ и обратным градиентом распределения примесей в базе (кривые 3 на рис. 2.1, а и б).

 

2.1.2 Параметры

 

Электрическими параметрами варикапа являются:

Снноминальная емкость, т.е. емкость между выводами варикапа при номинальном напряжении сме-щения;

Смаксмаксимальная емкость – емкость варикапа при задан-ном минимальном напряжении смещения;

Сминминимальная ем-кость – емкость варикапа при заданном максимальном напряжении смещения;

Кс = Cмаксминкоэффициент перекрытия по емкости;

ТК C =dC/(CнdT)температурный коэффициент емкости – относи-тельное изменение емкости варикапа при изменении температуры окру-жающей среды на 1 К в рабочем интервале температур при заданном напряжении смещения;

Qвноминальная добротность варикапа – отношение реактивного сопротивления варикапа к полному сопротивле-нию потерь при номинальном напряжении смещения на заданной ча-стоте;

ТК Qв =dQв/(QвdT) – температурный коэффициент добротно-сти – относительное изменение Qв при изменении температуры окру-жающей среды на 1 К в заданном интервале температур.

К параметрам эксплуатационных режимов относятся:

Pв.максмаксимальная допустимая мощ ность – максимальное значение мощности, рассеивае-мой на варикапе, при которой обеспечивается заданная надежность при его длительной работе;

Uобр.макс максимально допустимое на-пряжение – максимальное мгновенное значение переменного напряже-ния на варикапе;

RТобщее тепловое сопротивление.

В справочных данных указывают: fмакcfминчастотный диапазон работы варикапа, определяемый граничными частотами, на которых добротность варикапа Qв = 1. При этом граничные частоты варикапа

 

fмакс=1/(2πCбарrs); fмин=1/(2πСбарRy), (2.2)

 

где rs=rЭ+rБ – сопротивление потерь в эмиттерной и базовой областях варикапа; Rу – сопротивление утечки перехода варикапа.

Параметры варикапов в сборке имеют очень близкие значения.

 

2.1.3 Эквивалентная схема

 

Малосигнальная эквивалентная схема варикапа приве-дена на рис. 2.2,а. В схеме Lв – элементы индуктивности выводов прибора (порядка нескольких микрогенри); кон-денсатор Скорп 1,5 пФ учитывает емкость корпуса; резис-тор rs=rЭ+rБ моделирует омическое сопротивление ба-зы rБ с сопротивлением омического контакта и сопротив-ленце эмиттерной области rЭ с аналогичным контактом; резисторы rдиф, Ry учитывают дифференциальное сопро-тивление и сопротивление утечки перехода; конденсатор Спербар) – эквивалент емкости перехода (барьерной ем-кости). На, частотах до нескольких десятков мегагерц параметрами схемы Lв и Cкорп можно пренебречь ввиду их малости и ограничиться упрощенной схемой (на рисунке об-ведена штриховой линией). Сопротивление перехода при обратном напряжении на варикапе определяется сопротивлением утечки Ry. Типовое значение Rу > 1 МОм.

 

 

 

Рисунок 2.2 – Малосигнальная эквивалентная схема варикапа

 

Последовательное сопротивление rs определяет добротность варикапа Qв на высоких частотах. Добротность мож-но рассчитать из его упрощенной эквивалентной схемы при -условии что Ry rs. На высоких частотах добротность

 

. (2.3)

 

Для повышения добротности необходимо уменьшать сопротивление базы, что достигается введением в структу-ру варикапа n+ - области, снижать сопротивление омическо-го контакта путем увеличения концентрации примеси в n+ - области базы и подбором металла омических кон-тактов.

На низких частотах, для которых ωCбарrs 1 эквива-лентная схема варикапа представляет параллельное соеди-нение Ry и Сбар (рис. 2.2, б). Добротность варикапа при этом Qв.н.ч. ωСбарRу. С повышением частоты ω; добротность возрастает. На высоких частотах ωCбарrs 1и добротность варикапа Qв.в.ч. = 1/(ωСбарrs). С ростом частоты добротность падает. Эквивалентная схема варикапа для этого случая изображается последовательным соединением rs и Сбар (рис. 2.2, в). Таким образом, зависимость добротности варикапа Q от частоты (рис. 2.3) имеет максимум в диапазоне 10 – 30 МГц.

На высоких частотах добротность варикапа по (2.3) об-ратно пропорциональна сопротивлению rs. Для снижения rs целесообразно уменьшать толщину n -области базы. Но чтобы обеспечить эффективное изменение Сбар от прило-женного обратного напряжении, концентрация примесей в тонкой n -области структуры варикапа должна быть по возможности минимальной. Нижний предел концентрации примесей в базе ограничен снижением напряжения про-боя, уменьшением диапазо-на изменения Cбар макси-мальным значением rs. Структура p+-n-n+ -типа позволяет осуще-ствить рациональный, выбор концентрации и распределе-ния примесей в базе с уче-том диапазона изменения емкости Cбар и значения со-противления rs при высокой добротности варикапа. Составная n-n+ -база обеспечивает глубокое проникновение электрического поля p+-n -перехода в базу, резкое изменение толщины перехода при обратном напряжении, высокое значение пробивного напряжения (из-за увеличения толщины перехода при возрастании Uобр) и добротности варикапа, так как наличие n+ -области базы с высокой концентрацией примесей снижает сопротивление rs.

 

 

 

Рисунок 2.3 – Зависимость добротности варикапа от частоты

 

Добротность варикапа уменьшается с повышением тем-пературы, так как при этом возрастает сопротивление rs. С увеличением обратного смещения емкость Сбар и сопро-тивление rs, уменьшаются, а добротность соответственно растет. Уменьшение rs, в последнем случае объясняется расширением перехода и уменьшением толщины базы w в n -области структуры варикапа.

 

2.2 Цель работы

 

Научиться определять характеристики и параметры варикапов, а также параметры его эквивалентной схемы.

 

2.3 Задачи

 

Для достижения поставленной цели вам необходимо решить следующие задачи:

– ознакомиться со справочными данными используемого варикапа;

– провести измерения емкости и добротности варикапа при различных напряжениях и частотах;

– построить вольтфарадную характеристику варикапа и зависимость его добротности от частоты;

– рассчитать параметры варикапа и параметры его эквивалентной схемы.

 

2.4 Порядок работы и методы решения задач

 

2.4.1 Из справочника /1/ выпишите кратко основные электрические параметры исследуемого варикапа, начертите его условное графическое обозначение /5/, эскиз внешнего вида. Расшифруйте маркировку.

2.4.2 С помощью установки, состав которой приведен на рисунке 2.1, проведите измерения емкости и добротности варикапа.

Измерение емкости и добротности варикапа производится с помощью промышленного прибора Q -метра Е9-4 методом включения в резонансный контур. Принципиальная схема измерения емкости этим методом показана на рисунке 2.2.

Перед подключением варикапа к клеммам Q -метра, проведите операции “установка нуля” и “калибровка”, согласно инструкции по эксплуатации прибора.

Выбрав необходимую частоту измерения и установив ее ручками “Частота”, подключите к клеммам Q -метра соответствующую этой частоте катушку индуктивности контура Lk (рисунок 2.2). Изменяя емкость контура Ck, настройте его в резонанс по максимуму показаний вольтметра, отградуированного в единицах Q. Произведите отсчет емкости С1 и добротности Q1 контура Lk, Ck.

К клеммам Q -метра подключите варикап, задайте ему необходимый режим по напряжению с помощью внешнего источника питания УИП-2 и, вновь меняя емкость контура Ck, добейтесь резонанса в цепи контура с варикапом. Произведите отсчет емкости контура С2 и добротности цепи Q2.

Не меняя частоты измерения, отсчет С2 и Q2 произведите при напряжениях на варикапе Uобр = 10; 20; 30; 40 и 50 В, добиваясь каждый раз резонанса в цепи контура с варикапом.

Указанные измерения емкости и добротности “чистого” контура и контура с варикапом произведите при частотах f = 0,2; 0,3; 0,6; 2; 5; 10; 20 МГц, меняя при этом частоту внутреннего генератора и катушки индуктивности Lk.

Все манипуляции по подключению и отключению катушек индуктивности и варикапа на Q -метре производите только при отсутствии напряжения на его клеммах от источника УИП-2!

При всех измерениях уровень напряжения внутреннего генератора поддерживайте таким, чтобы стрелка измерительного прибора “Уровень” была на соответствующей риске.

2.4.3 Произведите расчет емкости варикапа при различных измеренных значениях напряжений и частот как разность значений емкости Ck “чистого” контура с варикапом. Постройте вольт-фарадную характеристику варикапа для одной из частот.

Расчет добротности варикапа произведите по формуле

 


 

 

 

 

Рисунок 2.5 – Принципиальная электрическая схема для определения емкости и добротности варикапа

 

.

 

Постройте зависимость добротности варикапа от частоты /2, раздел 3.5; 3, раздел 3.31/ при одном из постоянных напряжений.

2.4.4 На основании данных, полученных при измерениях емкости и добротности варикапа, рассчитайте:

– коэффициент перекрытия по емкости Кс;

– параметры эквивалентной схемы варикапа – сопротивление p-n -перехода Rу и сопротивление базовой области rs /2, раздел 3.5; 3, раздел 3.31/.

Изобразите эквивалентную схему варикапа, поясните природу входящих в нее элементов.

Отчет о работе должен содержать результаты изучения, измерений и вычислений по всем пунктам задания.

Для успешной защиты выполненной работы вы должны уметь пояснить ход вольт-фарадной характеристики варикапа, зависимость его добротности от частоты, уметь определять его параметры.

 

Литература

 

1 Аксенов А. И. Отечественные полупроводниковые приборы. Транзисторы биполярные. Диоды. Варикапы. Стабилитроны и стабисторы. Тиристоры. Оптоэлектронные приборы. Аналоги отечественных и зарубежных приборов: Справ. изд. – 6-е изд., доп. и испр. – М.: Солон-Пресс, 2008.–589 с.: ил.

2 Шишкин Г. Г. Электроника: Учеб. для вузов / Г. Г. Шишкин, А. Г. Шишкин. – М.: Дрофа, 2009. – 703 с.: ил.

3 Пасынков В. В., Чиркин Л. К. Полупроводниковые приборы: Учеб. пособие. – 8-е изд., испр. – СПб.: Лань, 2006. – 480 с.: ил.







Дата добавления: 2015-10-12; просмотров: 2007. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!



Функция спроса населения на данный товар Функция спроса населения на данный товар: Qd=7-Р. Функция предложения: Qs= -5+2Р,где...

Аальтернативная стоимость. Кривая производственных возможностей В экономике Буридании есть 100 ед. труда с производительностью 4 м ткани или 2 кг мяса...

Вычисление основной дактилоскопической формулы Вычислением основной дактоформулы обычно занимается следователь. Для этого все десять пальцев разбиваются на пять пар...

Расчетные и графические задания Равновесный объем - это объем, определяемый равенством спроса и предложения...

ТЕОРИЯ ЗАЩИТНЫХ МЕХАНИЗМОВ ЛИЧНОСТИ В современной психологической литературе встречаются различные термины, касающиеся феноменов защиты...

Этические проблемы проведения экспериментов на человеке и животных В настоящее время четко определены новые подходы и требования к биомедицинским исследованиям...

Классификация потерь населения в очагах поражения в военное время Ядерное, химическое и бактериологическое (биологическое) оружие является оружием массового поражения...

Седалищно-прямокишечная ямка Седалищно-прямокишечная (анальная) ямка, fossa ischiorectalis (ischioanalis) – это парное углубление в области промежности, находящееся по бокам от конечного отдела прямой кишки и седалищных бугров, заполненное жировой клетчаткой, сосудами, нервами и...

Основные структурные физиотерапевтические подразделения Физиотерапевтическое подразделение является одним из структурных подразделений лечебно-профилактического учреждения, которое предназначено для оказания физиотерапевтической помощи...

Почему важны муниципальные выборы? Туристическая фирма оставляет за собой право, в случае причин непреодолимого характера, вносить некоторые изменения в программу тура без уменьшения общего объема и качества услуг, в том числе предоставлять замену отеля на равнозначный...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.009 сек.) русская версия | украинская версия