ДОСЛІДЖЕННЯ ЕЛЕКТРОФІЗИЧНИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ КРИСТАЛІВ
МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ ДЕРЖАВНИЙ ВИЩИЙ НАВЧАЛЬНИЙ ЗАКЛАД “УЖГОРОДСЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ” ФІЗИЧНИЙ ФАКУЛЬТЕТ КАФЕДРА ОПТИКИ ЗВІТ ПО ТЕХНОЛОГІЧНІЙ ПРАКТИЦІ “ДІЕЛЕКТРИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ШАРУВАТИХ КРИСТАЛІВ TlIS2” Виконав: студент 3 курсу, групи 2 Вайдич Юрій Іванович Керівник: Гуранич П.П. . Ужгород-2014 ЕКСПЕРИМЕНТАЛЬНІ МЕТОДИКИ ДОСЛІДЖЕННЯ ОПИС УСТАНОВКИ ТА МЕТОДИКА ЕКСПЕРИМЕНТУ ДОСЛІДЖЕННЯ ЕЛЕКТРОФІЗИЧНИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ КРИСТАЛІВ Діелектрична проникність e кристалів визначалася з результатів експериментальних вимірювань електроємності зразків і розраховувалась за формулою для плоского конденсатора , (1) де d – товщина зразка, C – електроємність, S – площа електричних контактів, e0 – електрична стала.
Електроємність С і тангенс кута діелектричних втрат tgd зразків вимірювалися за допомогою мосту змінного струму Е7-12 на частоті 1МГц та мосту Е8-4 на частоті 1кГц. Кристали знаходилися в камері високого гідростатичного тиску (рис 2.2), в якій у якості робочої рідини був гас. Температура фіксувалася вольтметром В 7-21, який визначав різницеву напругу диференційної мідь – константанової термопари (5), один кінець якої знаходився в камері високого тиску (1), а інший – в термостаті з льодом (7). Камера охолоджувалася рідким азотом, для нагрівання використовувався нагрівний елемент (6) підключений до ТЕС–5020. Величина гідростатичного тиску визначалася за допомогою манганінового датчика високого гідростатичного тиску (4) та цифрового омметра Щ-34. Залежності e(Т) та tgd(Т) при фіксованих тисках отримані в динамічному режимі охолодження та нагріву зі швидкостю зміни температури 0.03–0.1 К/сек. Відносна похибка при вимірюванні електроємності складала 0.2 –0.4 %, а при вимірюванні tgd - 3-5 %. При розрахунках діелектричної проникності e за співвіднощенням (1.1) було враховано “паразитну” додаткову ємність електрообтюратора камери високого тиску та ємність монтажних дротів. В якості електричних контактів використовувалась срібна паста типу “Дегуса-200”. Вимірювання температурних залежностей піроелектричних коефіцієнтів проведено квазістатичним методом. Похибка даного методу не перевищує 3¸5 %. Зазначимо, що автоматичний запис піроелектричних струмів проводився на монодоменізованих кристалах в режимі нагрівання при використанні нагрівного елементу (6) і ТЕС–5020 (рис. 2). Для монодоменізування кристалів у параелектричній фазі до об’єкту досліджень з використанням блока живлення ТВ1 прикладалося зовнішнє електричне поле, напруженість якого вища за величину коерцетивного поля, і за таких умов зразок переводився в сегнетоелектричний стан охолодженням до температури рідкого азоту, при цьому температура фіксувалася вольтметром В 7-21, який визначав різницеву напругу диференційної мідь-константанової термопари (5). При температурі рідкого азоту дія зовнішнього електричного поля припинялася, а електричні контакти тимчасово закорочувалися. Після зазначеної процедури, в режимі нагрівання зі швидкостями 0.08-0.25 К/сек проводилося вимірювання піроелектричного стуму, величина якого підсилювалася приладом У5-11 і фіксувався вольтметром В7-30. Величина гідростатичного тиску визначалася за допомогою манганінового датчика високого гідростатичного тиску (4), що був підключеним до цифрового омметра Щ-34. Як відомо, в сегнетоелектриках величина піроелектричного струму визначається швидкістю зміни спонтанної поляризації зі зміною температури та швидкістю зміни температури з часом (2) де S – площа поперечного перерізу зразка; γ;= dPs/dT – піроелектричений коефіцієнт; vT = dT/dt – швидкість зміни температурі.
За результатами експериментальних досліджень температурних залежностей піроелектричного струму визначено температурні залежності спонтанної поляризації Ps(T) за співвідношенням [128, 129]: . (3) Проводячи процедуру інтегрування експериментальних температурних залежностей In(T) отримано температурні залежності Ps(T). Зазначимо, що значення спонтанної поляризації та коерцитивного поля кристалів отримувалися також із аналізу насичених петель діелектричного гістерезису, дослідження яких проводилися по традиційній методиці за допомогою модифікованої схеми Сойера-Тауера. Такий спосіб визначення Ps дає точність в межах 1¸2%. Для електрофізичних досліджень зразки виготовлялися у вигляді паралелепіпеда. На паралельні поверхні наносилися електричні контакти, в якості яких використовувалася срібна паста типу “Дегусса-200” та мідні прижимні контакти. Для вимірювань використовувалися зразки, геометричні розміри яких складали 5×5×0.25 мм3, 5×5×2 мм3 та 7×1×3.5 мм3 і визначалися за допомогою мікроскопа з точністю ±10-2мм.
|