Влияние кривизны Земли и рефракции на результаты нивелированияНа рис. 9.8 а, б показаны: точка 1 – отсчет по рейке В в том случае, если бы луч света распространялся прямолинейно; точка 2 – фактический отсчет по рейке; точка 3 – место пересечения рейки уровенной поверхностью. Из треугольника D O 1 I (рис. 9.8 б) имеем (R + D h)2 = d 2, где R - радиус Земли и d – расстояние до рейки. Следовательно, кривизна Земли изменяет отсчет по рейке на величину D h» d 2 ¤ (2 R). Радиус кривизны светового луча равен R/ k, где – k коэффициент рефракции. Поэтому аналогично предыдущему получаем r» kd 2 ¤ (2 R). Совместное влияние кривизны Земли и рефракции равно f = D h - r = В среднем в земной атмосфере k = 0, 14. При этом f =
При нивелировании из середины влияние кривизны Земли полностью, а влияние рефракции в значительной степени нейтрализуется. Вблизи к земной поверхности рефракция значительно возрастает, поэтому высоту луча визирования менее 0, 2 м не допускают.
|
.
. Так, если d = 300 м, то f = 6 мм.
