Расчет надежности блока
Одним из важнейших показателей качества изделий является надёжность. Основными составляющими надёжности является выполнение изделием заданных функций за время, в течение которого должно выполнение этих функций и условия эксплуатации. Основными количественными показателями надёжности является наработка до отказа, интенсивность отказов и вероятность безотказной работы. Сначала рассчитаем суммарную интенсивность отказов элементов При отказе любого элемента работоспособность устройства нарушается. Исходя из этого, рассчитаем интенсивности отказов ЭРЭ элементов.
Резисторы. В качестве
Принимаем
а = А·exp{B·((T+273)/NT) A = 0,26; B = 0,5078; G = 9,278; J = 1; H = 0,886; NT = 343; NS = 0,878; Т=60
Табл.5.1
Таким образом, реальная интенсивность отказов для всех резисторов схемы будет равна:
Конденсаторы. λо =0,006·106 1/час для конденсаторов типа К10-17, λо =0,001·106 1/час для конденсаторов типа К53-16,
A = 5,909·10 A = 1,05·10
Значение коэффициентов: Таблица 5.2
Диод.
Резистивные сборки.
а = А·exp{B·((T+273)/NT) A = 0,00253; B = 6,35; G = 1,4817; J = 0,1; H = 1,169; NT = 373; NS = 0,723; Кн=0,5
где n- количество резисторов во всех сборках.
Микросхемы.
λэ = λo·Кэ Кэ=1,5 λo=1·10-5 1/час - для всех микросхем λэ = λo·Кэ=1·10-5 ·1,5·=1,5·10-5 1/час λм = n· λэ = 32·1,5·10-5 = 4,8·10-5 1/час
Разъемы.
λэ = λо·а·Кк·Кс·Кэ, Кс=0,37·е0,002·n=0,398 - коэффициент, учитывающий число сочленений. Кк1= Кк2= Кэ=2,5 – коэффициент эксплуатации, N1=32 -число задействованных контактов разьема XP1. N2=45 -число задействованных контактов разьема XP2. n=36-число сочленений.
KH=0,08-коэффициент нагрузки. tП=22°С-перегрев контактов. T=62°С- температура окружающей среды. λо=0,0025·10-6 1/час. λЭ=0,0025·10-6·1,6·4,7·0,398·2,5+0,0025·10-6·1,6·9·0,398·2,5=2,18·10-8 1/час.
Т.о. суммарная интенсивность отказов всех элементов ячейки равна:
Среднее время наработки на отказ равно:
Анализируя расчеты надежности ячейки УСМ, можно сделать вывод: что ее интенсивность отказов примерно равна сумме интенсивностей отказов микросхем. Значит, посчитав сумму интенсивностей отказов всех микросхем блока, можно рассчитать надежность блока. В состав блока входит 116 микросхем. Интенсивность отказов каждой
где
При последовательном соединении элементов вероятность безотказной работы за 100 часов определяется по формуле:
Среднее время наработки на отказ у блока равно:
Полученное значение времени наработки до отказа превышает заданное в ТЗ:450 часов, что подтверждает надёжность устройства.
|