ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №6
1. Какие существуют программные и аппаратные методы устранения искажений, вносимых несовершенством сканирующих элементов при измерении с помощью сканирующих зондовых микроскопов? 2. Какие ограничения на свойства исследуемых материалов накладывает сканирующая туннельная микроскопия? 3. Каким образом реализуется режим постоянной силы в контактной атомно-силовой микроскопии? 4. Каковы преимущества методов зондовой микроскопии по сравнению с другими типами микроскопии?
Составитель____________________ Никиян А.Н. Заведующий кафедрой ___________ Алиджанов Э.К. «10» мая 20 12 г
|
