ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №4
1. Какие основные негативные свойства пьезокерамики, используемой в сканирующих элементах, могут приводить к искажениям изображений сканирующего зондового микроскопа? 2. Каким образом реализуется режим постоянного тока сканирующего туннельного микроскопа? 3. С помощью какой методики контактной атомно-силовой микроскопии можно исследовать пространственное распределение коэффициента трения? 4. Какие типы зондов используются в сканирующей ближнепольной оптической микроскопии?
Составитель____________________ Никиян А.Н. Заведующий кафедрой ___________ Алиджанов Э.К. «10» мая 20 12 г
|