Электросиловая микроскопия. Магнитно-силовая микроскопия. Ближнепольная оптическая микроскопия

1. С помощью какого режима сканирующей зондовой микроскопии можно исследовать магнитные свойства материалов?

2. Каким образом в режиме магнитной силовой микроскопии удается разделить магнитный и топографический вклады в результирующее изображение?

3. Какие токопроводящие покрытия зондов используются для работы в электрических методиках сканирующей зондовой микроскопии?

4. Какие типы электромеханического взаимодействия возможны между кантилевером и образцом в контактном режиме?

5. Каким образом реализованы измерения в режиме контактной сканирующей емкостной микроскопии?

6. Каким образом реализовано измерение поверхностного электростатического потенциала в методе зонда Кельвина?

7. На какой гармонике детектируется возбуждение механических колебаний в режиме сканирующей емкостной микроскопии?

8. Каковы преимущества методов зондовой микроскопии по сравнению с другими типами микроскопии?

9. Какие ограничения накладывает дифракционный предел на пространственное разрешение классической оптической микроскопии?

10. В чем заключается основная идея реализации сканирующей ближнепольной оптической микроскопии, обеспечивающая многократное увеличение разрешающей способности методики?

11. Какие типы зондов используются в сканирующей ближнепольной оптической микроскопии?

12. Каким образом в режиме сканирующей ближнепольной оптической микроскопии контролируется расстояние между зондом и поверхностью?