Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Выбор длины участка измерения





Ra, мкм Базовая длина l, мкм Длина участка измерения L, мм, не менее
От 0,006 до 0,02 0,08 0,4
" 0,02 " 0,32 0,25 1,6
" 0,32 " 2,5 0,8 4,0
" 2,5 " 10,0 2,5 10,0
" 10,0 " 80,0 8,0 32,0

 

 

При измерении по профилограмме параметра Ra дискретным способом в тех случаях, когда другими сос­тавляющими погрешности измерения по сравнению с погрешностью от ограниченности длины измерения мож­но пренебречь, длину участка измерения выбирают в зависимости от заданной допустимой относительной по­грешности следующим образом.

Используя значение Х1 (п. 1.4), по табл. 5 определяют коэффициент A0.

22. Выбор значений коэффициентаА0

А0 0,0067 0,0069 0,0074 0,0078 0,0067 0,0069 0,0071
^1 0,1 0,3 0,6 0,85 1,2 1,6 1,8
 

 

Для заданной допустимой относительной погрешности измерения е, доверительной вероятности в и най­денных, значений величий Хк (п. 1.4) и А0 определяют необходимую длину участка измерения на поверхности по формуле

где tp - квантиль порядка в, определяемый по табл. 6.

23.

 
 

Значения кванители tp

в 0,680 0,870 0,950 0,988 0,997
Ч 1,0 1,5 2,0 2,5 3,0

Число базовых длин q определяют по формуле

 

 

Если q - не целое число, то его округляют до ближайшего большего целого.

Длина участка измерения на профилограмме определяется по формуле

Ln = LU .

6. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЗНАЧЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ Rz, Rmax, S ПРИ ПОМОЩИ МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРОВ И РАСТРОВЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ МИКРОСКОПОВ С ВИЗУАЛЬНЫМИ ОКУЛЯРАМИ ВИНТОВЫМИ МИКРОМЕТРАМИ

При измерении параметров Rz, Rmax, S в поле изображения прибора одна из нитей перекрестия должна быть установлена параллельно направлению полос (интерференционных, муаровых), другая - параллельно направ­лению неровностей. Параметры шероховатости определяются в пределах базовой длины.

6. Для нахождения значения параметра Rz при измерении растровым микроскопом и микроинтерферо­метрами МИИ-4, МИИ-5, МИИ-10 (с преобладанием интерференции равного наклона) измеряют ординаты пя­ти наибольших максимумов профиля himax и пяти наибольших минимумов h,mm в делениях барабана микромет­ра.

Измеряют ширину полосы (интерференционной, муаровой) е в делениях барабана микрометра.

 
 

Значение параметра Rz находят по формуле

где с1 - цена интерференционной, муаровой полосы прибора, мкм.

6. При измерении микроинтерферометрами МИИ-9, МИИ-12 (с преобладанием интерференции в клине) значение параметра Rz находят по формуле


 

- цена интерференционной полосы; X - длина волны источника света, мкм; U0 - апертурный

угол; sin U0 - апертура освещающего пучка.

6. Для нахождения значения параметра Rmax при измерении растровым микроскопом и микроинтерферометром МИИ-4, МИИ-5, МИИ-10 измеряют ординаты наивысшей точки профиля hmax и наинизшей точки профиля hmin в делениях барабана микрометра.

Измеряют ширину полосы (интерференционной, муаровой) е в делениях барабана.

 
 

Значении параметра Rmax находят по формуле

6.

 
 

Значение параметра Rmax при измерении микроинтерферометрами МИИ-9, МИИ-12 находят по фор­муле

6. Значение параметра S при измерении растровым микроскопом и любым микроинтерферометром нахо­дят следующими способами:

а) нить перекрестия последовательно совмещают с соседними максимумами профиля.

Измеряют абсциссы максимумов профиля S. в делениях барабана микрометра.

 
 

Значение параметра S находят по формуле

где п - число шагов неровностей профиля по вершинам;

измерении абсцисс, мм; Гоб - увеличение объектива прибора; б) значение параметра S находят в соответствии с п. 5.5.6.

7. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЗНАЧЕНИЙ ПАРАМЕТРАRz,Rmax,SПРИ ПОМОЩИ ПРИБОРОВ СВЕТОВОГО







Дата добавления: 2015-04-16; просмотров: 318. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2022 год . (0.02 сек.) русская версия | украинская версия