Краткие теоретические сведения. Контакты полупроводника с металлом или с другим полупроводником обладают иногда выпрямляющими свойствами
Контакты полупроводника с металлом или с другим полупроводником обладают иногда выпрямляющими свойствами, т. е. значительно эффективнее пропускают ток в одном направлении, чем в обратном. Это происходит потому, что в приконтактной области изменяется концентрация или даже тип носителей заряда, т. е. образуется пространственный заряд, обеспечивающий контактную разность потенциалов, необходимую для выравнивания (в состоянии равновесия) уровней Ферми по обе стороны контакта. В отличие от металлов, в полупроводниках эта область оказывается достаточно широкой, чтобы при малой концентрации носителей обеспечить нужный перепад потенциала. Если знак контактной разности потенциалов таков, что концентрация носителей в приконтактной области становится меньшей, чем в объёме полупроводника, то приконтактный слой определяет сопротивление всей системы. Внешняя разность потенциалов дополнительно уменьшает число носителей в приконтактной области, если она добавляется к контактной разности потенциалов или, наоборот, увеличивает их концентрацию, если знак её противоположен. Таким образом, сопротивление контакта для токов в прямом и обратном направлениях существенно различаются, что и обеспечивает выпрямляющие свойства контакта. Такие контакты явились первыми полупроводниковыми приборами (выпрямители, детекторы), однако развитие полупроводниковой электроники началось лишь после того, как были созданы р-п переходы - контакты областей полупроводника с разным типом проводимости внутри единого полупроводникового кристалла. Контактная разность потенциалов в этом случае близка к ширине запрещенной зоны, так как уровень Ферми (уровень WF на рис. 11.1) в п- области лежит вблизи дна зоны проводимости WС (рис. 11.1), а в р -области - вблизи валентной зоны WV (рис. 11.1). Уменьшающая её внешняя разность потенциалов вызывает диффузионные потоки электронов в р -область и дырок в n -область (инжекцию неосновных носителей тока). В обратном направлении р-п переход практически не пропускает ток, т.к. оба типа носителей оттягиваются от области перехода. В полупроводниках с большой длиной диффузии, таких, как Gеи Si, инжектированные одним р-п -переходом неравновесные носители могут достигать другого, близко расположенного р-п перехода, и существенно определять ток через него. Возможно изменение тока через р-п переход, при создании вблизи него неравновесных носителей каким-либо другим способом, например освещением. Первая из этих возможностей управления током р-п перехода (инжекция) является физической основой действия транзистора, а вторая (фотоэдс) - фотодиода и солнечных батарей. На рис. 11.1 приведены зонные диаграммы, иллюстрирующие этапы формирования электронно-дырочного перехода.
Рис. 11.1. Зонные диаграммы
Границу, где уровень Ферми пересекает середину запрещенной зоны, называют физическим р-п переходом. Вольтамперная характеристика р-п перехода (диода) с приложенным внешним напряжением U будет иметь следующий вид:
,
где β – коэффициент, характеризующий свойства р-п перехода; iC – плотность тока насыщения. На рис. 11.2 изображена вольтамперная характеристика р-п перехода:
Рис. 11.2. Вольтамперная характеристика р-п перехода
На рис. 11.2 U пр – максимальное падение напряжения на диоде, при пропускании через него тока в прямом направлении; iC – ток насыщения, максимальный ток проходящий через диод, при пропускании через него обратного тока. Фотоэлектрические полупроводниковые приборы с генерацией ЭДС при воздействии излучения на область р-п перехода, называются фотоэлементами. Фотоэлементы служат преобразователями световой энергии в электрическую. Некоторой разновидностью фотоэлементов являются солнечные элементы, предназначенные для преобразования солнечных лучей в электрическую энергию. Совокупность электрически соединенных фотоэлементов называется солнечной батареей. В фотодиодах на основе р-п - переходов используется эффект разделения на границе электронно-дырочного перехода созданных оптическим излучением неосновных неравновесных носителей. На рис. 11.3 схематически изображен фотодиод и схема его включения. Вольтамперная характеристика для активного режима работы (приложено внешнее напряжение) имеет вид:
. (11.1)
Рассмотрим два частных случая уравнения (11.1). 1. Режим холостого хода (разомкнутая цепь). Ток во внешней цепи отсутствует (i = 0), а напряжение на выводах фотоэлемента будет максимальным и равным ЭДС фотоэлемента. Он определяется, по непосредственно подключенному вольтметру к выходам фотодиода. 2. Режим короткого замыкания. При этом напряжение на выводах фотодиода отсутствует, а сила тока равна силе фототока. Основными характеристиками фотодиодов является зависимость фототока и фотоэдс от светового потока, падающего на элемент.
Рис. 11.3. Схема функциональная включения фотодиода
Световая характеристика представляет собой зависимость величины фототока i Ф от светового потока Е, падающего на фотоэлемент. Количество электронно-дырочных пар, образующихся в фотоэлементе при освещении, пропорционально количеству фотонов, падающих на фотоэлемент. Поэтому фототок будет пропорционален величине светового потока:
, (11.2)
где K – коэффициент пропорциональности, зависящий от параметров фотоэлемента. Подставив выражение (11.2) в (11.1) получим зависимость силы тока в цепи фотодиода от светового потока Еи напряжения на фотодиоде U.
. (11.3)
При неизменном напряжении U на фотодиоде зависимость тока от светового потока будет иметь линейный характер.
11.4. Используемое оборудование
«Модуль питания», модуль «Барьерный эффект. Фотопроводимость», «Функциональный генератор», модуль «Мультиметры», USB – осциллограф, минимодуль, соединительные проводники.
|