Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Упражнение 2. Измерение разрешающей способности объектива.





Вследствие волновой природы света даже самая совершенная система не может дать идеального оптического изображения, так как свет, попадающий в объектив, дифрагирует на круглой оправе объектива. В результате в фокальной плоскости объектива получается не простое стигматическое изображение точки, а сложная дифракционная картина с центральным максимумом, окруженным темными и светлыми кольцами. Пользуясь теорией дифракции, можно показать, что подавляющая часть (~84%) прошедшего светового потока попадает в область центрального светового пятна. Интенсивность остальных световых колец быстро убывает, поэтому в первом приближении дифракционную картину можно считать состоящей из одного пятна с угловым радиусом

,

где D – диаметр диафрагмы, l - длина волны света.

Так как объект представляет собой совокупность точек различной яркости, а каждая точка превращается в дифракционное пятно, то при малых угловых расстояниях между изображениями точек происходит наложение этих пятен друг на друга. В результате изображение размывается, мелкие детали сливаются, т.е. перестают разрешаться прибором.

Согласно критерию Релея, две близко расположенные светящиеся точки S 1 и S 2 еще различимы как раздельные, если середина центрального дифракционного максимума для одной точки накладывается на первый минимум дифракционной картины для второй точки (рис. 3).

Рис. 3. К определению критерия Рэлея

Тогда предельное угловое расстояние между изображениями двух точек, при котором они ещё разрешаются прибором, равно:

.

Величина, обратная предельному угловому расстоянию, называется разрешающей силой объектива:

.

Таким образом, разрешающая сила оптической системы зависит от диаметра отверстия и длины волны падающего света.

Теоретически разрешающая сила с возрастанием D растет, но практически из-за усиления аберрации при больших D разрешающая сила с возрастанием диафрагмы несколько уменьшается.

На практике разрешающую силу принято измерять максимальным числом светлых штрихов и равным им по ширине темных промежутков, разрешаемых на одном миллиметре длины изображения.

Рис. 4. Мира

Для определения разрешающей силы объектива пользуются специальными штриховыми таблицами-мирами (рис. 4). На таблице расположено несколько рядов заштрихованных квадратов с постепенно уменьшающейся толщиной штрихов. В каждом квадрате штрихи расположены по четырем различным направлениям. Расстояние между штрихами равно их толщине, следовательно, зная число штрихов на 1 миллиметр, можно вычислить ширину штриха в любом квадрате (число штрихов на одном миллиметре указано в центре квадрата). Разрешенными считаются те квадраты, в которых различаются штрихи во всех четырех направлениях. Очевидно, что , где a – ширина штриха, f – фокусное расстояние объектива. Отсюда: .

Порядок выполнения работы:

На той же оптической скамье, что использовалась в упражнении 1, собрать установку для определения разрешающей способности объектива. Предметом теперь служит осветитель с мирой 4, а вместо экрана – микроскоп 5 (рис. 2).

1. Установить максимальный диаметр диафрагмы.

2. Перемещением объектива сфокусировать изображение миры в микроскопе, более тонкую наводку произвести окуляром микроскопа.

3. Определить номер самого мелкого разрешаемого квадрата миры. Число, указанное в середине этого квадрата равно числу штрихов на 1 миллиметре. По этому значению найти ширину штриха a.

4. Определить разрешающую силу объектива A.

5. Повторить пункты 2 – 4, уменьшив размер диафрагмы.

6. Построить график зависимости A от относительного отверстия (относительное отверстие – это величина, обратная числам, указанным на оправе объектива).

Контрольные вопросы

1. Центрированная оптическая система (ЦОС).

2. Кардинальные элементы ЦОС. Построение изображения в ЦОС.

3. Матричный способ описания ЦОС.

4. Аберрации оптических систем.

5. Объектив. Разрешающая способность объектива.

6. Сформулируйте цель работы, опишите экспериментальную часть и обсудите результаты.

 







Дата добавления: 2015-08-12; просмотров: 1359. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!




Обзор компонентов Multisim Компоненты – это основа любой схемы, это все элементы, из которых она состоит. Multisim оперирует с двумя категориями...


Композиция из абстрактных геометрических фигур Данная композиция состоит из линий, штриховки, абстрактных геометрических форм...


Важнейшие способы обработки и анализа рядов динамики Не во всех случаях эмпирические данные рядов динамики позволяют определить тенденцию изменения явления во времени...


ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА Статика является частью теоретической механики, изучающей условия, при ко­торых тело находится под действием заданной системы сил...

Опухоли яичников в детском и подростковом возрасте Опухоли яичников занимают первое место в структуре опухолей половой системы у девочек и встречаются в возрасте 10 – 16 лет и в период полового созревания...

Способы тактических действий при проведении специальных операций Специальные операции проводятся с применением следующих основных тактических способов действий: охрана...

Искусство подбора персонала. Как оценить человека за час Искусство подбора персонала. Как оценить человека за час...

Классификация потерь населения в очагах поражения в военное время Ядерное, химическое и бактериологическое (биологическое) оружие является оружием массового поражения...

Факторы, влияющие на степень электролитической диссоциации Степень диссоциации зависит от природы электролита и растворителя, концентрации раствора, температуры, присутствия одноименного иона и других факторов...

Йодометрия. Характеристика метода Метод йодометрии основан на ОВ-реакциях, связанных с превращением I2 в ионы I- и обратно...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2026 год . (0.008 сек.) русская версия | украинская версия