Температурная стабильность транзисторных схем
Влияние температуры. При расчете и конструировании аппаратуры с транзисторами и полупроводниковыми диодами необходимо учитывать, что параметры отдельных образцов этих приборов даже одного и того же типа различны и, кроме того, в значительной мере и по-разному изменяются при изменениях температуры. На работу транзисторной схемы существенно влияют изменения постоянной составляющей тока коллектора I к, так как эти изменения вызывают изменение коэффициента усиления и входного сопротивления транзистора. Вместе с тем при увеличении тока I к возрастает падение напряжения на сопротивлении нагрузки в цепи коллектора и, следовательно, уменьшается напряжение коллектор-эмиттер Uк.э.. Если оно станет меньше допустимого (для большинства германиевых транзисторов Uк.н.≈ 0,5 В), то рабочая точка перейдет в нелинейную область коллекторных характеристик и возрастут нелинейные искажения. Большое повышение температуры вызывает недопустимый перегрев электронно-дырочных переходов транзисторов, что может привести к выходу последних из строя. Постоянная составляющая тока коллектора I к зависит от тока смещения базы I б, существенной компонентой которого является обратный ток коллекторного перехода I к0. Величина этого тока мало зависит от напряжения на коллекторе, однако сильно различается у транзисторов даже одного и того же типа; вместе с тем величина I к0 при изменении температуры коллекторного перехода изменяется по экспоненциальному закону: при повышении температуры на каждые 10 град ток I к0 германиевого транзистора увеличивается примерно в 1,5−2 раза, а кремниевого — в 2,5−3 раза. Увеличение обратного тока 1 к0с ростом температуры ведет к возрастанию величины постоянной составляющей тока коллектора I к. При этом изменение последней не превышает величины изменения обратного тока δI к ≈ δI к0 только в таких схемах, где входной электрод транзистора получает смещение от отдельного источника питания и сопротивление в цепи базы мало. Во всех других схемах, изменение постоянной составляющей тока коллектора может значительно превышать изменение обратного тока δI к0, а это может оказать весьма существенное влияние на работу транзисторного каскада. Коэффициент нестабильности. Влияние температуры на режим работы транзисторного каскада оценивают с помощью так называемого коэффициента нестабильности Sн, который представляет собой отношение допустимого изменения тока коллектора δI к к вызвавшему его изменению обратного тока коллекторного перехода δI к0, т. е. (3-20). Чем меньше S н, тем слабее влияют на режим работы каскада колебания температуры. В соответствии со сказанным выше коэффициент нестабильности зависит от схемы подачи смещения на управляющий электрод транзистора: для схем с двумя источниками питания при малом сопротивлении в цепи этого электрода S н≈l, а для всех других схем S н>1. Иметь приемлемую в эксплуатации температурную стабильность тока коллектора в схеме с одним источником питания, т. е. получить достаточно малую величину S н, можно только при условии технически грамотного построения такой схемы. Удовлетворительную стабильность режима работы схемы ОЭ можно получить, включая в цепь эмиттера транзистора резистор Rэ и подавая смещение на базу с делителя напряжения из резисторов Rсм и Rб (рис. 3. 1, в и г). Принципы улучшения температурной стабильности. Стабилизация тока коллектора в схемах по рис. 3.1, в и г достигается действием отрицательной обратной связи по постоянному току, сущность которой заключается в следующем. Резисторы Rб и Rэ можно рассматривать как включенные последовательно между базой и эмиттером. Падение напряжения на резисторе Rб, от проходящего по нему тока делителя создает на эмиттерном переходе прямое смещение. Вместе с тем падение напряжения на резисторе Rэ, возникающее вследствие прохождения по нему тока эмиттера, создает на эмиттерном переходе обратное смещение. Результирующее смещение на эмиттерном переходе получается прямым и равным разности напряжений на резисторах Rб и Rэ. При увеличении тока коллектора (следовательно, и тока эмиттера) вследствие повышения температуры падение напряжения на резисторе R э увеличивается, прямое смещение на эмиттерном переходе становится меньше, а это ведет к уменьшению тока коллектора: имеет место действие, обратное действию температуры, схема стремится возвратиться в исходное состояние. В схемах по рис. 3. 1, д и е механизм действия отрицательной обратной связи по постоянному току иной: при увеличении коллекторного тока постоянная составляющая напряжения на нагрузочном резисторе в цепи коллектора возрастает и напряжение между коллектором и эмиттером уменьшается. Так как коллектор соединен с базой через резистор Rcw, то одновременно снижается напряжение между базой и эмиттером, т. е. прямое смещение на эмиттерном переходе. Последнее вызывает уменьшение коллекторного тока. При понижении температуры наблюдаются обратные явления. Последние две схемы, особенно схема по рис. 3.1, е, в отношении температурной стабильности значительно хуже, чем схемы на рис. 3.1, в и г. Расчет каскадов. Пользуясь формулами табл. 3.5, можно рассчитать цепи питания транзисторных каскадов с заданными коэффициентами нестабильности S н, а также определить значения Sн таких каскадов с известными сопротивлениями резисторов (на схемах в табл. 3.5 конденсаторы, шунтирующие резисторы в цепях эмиттеров, и конденсаторы развязывающих цепей не показаны).
Продолжение таблицы 3.5
Из формул (3-26) непосредственно следует, что коэффициенты нестабильности Sн каскадов по наиболее распространенным схемам Д и Е (соответствуют схемам рис. 3. 1, в и г) при увеличении сопротивления резистора R э в цепи эмиттера и при уменьшении сопротивлений резисторов Rб и R см в делителе напряжения уменьшаются, т. е. стабильность тока коллектора I к улучшается. Поэтому сопротивление резистора Rэ целесообразно выбирать возможно большим (не допуская снижения напряжения Uк.э. до величины Uк.н.). При этом приходится увеличивать и сопротивления резисторов Rсм и Rб, что ведет к уменьшению потребления тока делителем напряжения и к увеличению входного сопротивления каскада при резистивно-емкостной связи его с предыдущим каскадом (рис. 3.1, е). Если питание транзисторного каскада осуществляется через индивидуальный развязывающий RС-фильтр, включенный между отрицательным полюсом источника питания и резистором или катушкой индуктивности в цепи коллектора (транзистор структуры р-п-р, «заземлен» положительный полюс источника питания), то при расчете коэффициента нестабильности следует пользоваться формулами (3-26) для схем Ж к И в табл. 3.5, принимая величину Rк за сопротивление резистора упомянутого фильтра. Когда же, как показано на схеме Ж, включен резистор междукаскадной связи, то в формулу (3-26) следует подставлять значение Rк, равное сумме сопротивлений резисторов связи и фильтра. Если же резистором междукаскадной связи является резистор Rк1 (схема И), то при расчете его сопротивление во внимание не принимают.
|