Студопедия — Температурная стабильность транзисторных схем
Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Температурная стабильность транзисторных схем






Влияние температуры. При расчете и конструировании аппара­туры с транзисторами и полупроводниковыми диодами необходимо учитывать, что параметры отдельных образцов этих приборов даже одного и того же типа различны и, кроме того, в зна­чительной мере и по-разному изменяются при изменениях темпе­ратуры.

На работу транзисторной схемы существенно влияют изменения постоянной составляющей тока коллектора I к, так как эти измене­ния вызывают изменение коэффициента усиления и входного сопро­тивления транзистора. Вместе с тем при увеличении тока I к возра­стает падение напряжения на сопротивлении нагрузки в цепи кол­лектора и, следовательно, уменьшается напряжение коллектор-эмиттер Uк.э.. Если оно станет меньше допустимого (для большинства германиевых транзисторов Uк.н.≈ 0,5 В), то рабочая точка перейдет в нелинейную область коллекторных характеристик и возрастут не­линейные искажения.

Большое повышение температуры вызывает недопустимый пере­грев электронно-дырочных переходов транзисторов, что может при­вести к выходу последних из строя.

Постоянная составляющая тока коллектора I к зависит от тока смещения базы I б, существенной компонентой которого является обратный ток коллекторного перехода I к0. Величина этого тока ма­ло зависит от напряжения на коллекторе, однако сильно различается у транзисторов даже одного и того же типа; вместе с тем величина I к0 при изменении температуры коллекторного перехода изменяется по экспоненциальному закону: при повышении температуры на каж­дые 10 град ток I к0 германиевого транзистора увеличивается при­мерно в 1,5−2 раза, а кремниевого — в 2,5−3 раза.

Увеличение обратного тока 1 к0с ростом температуры ведет к возрастанию величины постоянной составляющей тока коллектора I к. При этом изменение последней не превышает величины изменения обратного тока δI кδI к0 только в таких схемах, где входной элек­трод транзистора получает смещение от отдельного источника пи­тания и сопротивление в цепи базы мало. Во всех других схемах, изменение постоянной со­ставляющей тока коллектора может значительно превышать измене­ние обратного тока δI к0, а это может оказать весьма существенное влияние на работу транзисторного каскада.

Коэффициент нестабильности. Влияние температуры на режим работы транзисторного каскада оценивают с помощью так называе­мого коэффициента нестабильности Sн, который представляет собой отношение допустимого изменения тока коллектора δI к к вызвавше­му его изменению обратного тока коллекторного перехода δI к0, т. е.

(3-20).

Чем меньше S н, тем слабее влияют на режим работы каскада колебания температуры. В соответствии со сказанным выше коэф­фициент нестабильности зависит от схемы подачи смещения на управляющий электрод транзистора: для схем с двумя источниками питания при малом сопротивлении в цепи этого электрода S н≈l, а для всех других схем S н>1.

Иметь приемлемую в эксплуатации температурную стабильность тока коллектора в схеме с одним источником питания, т. е. получить достаточно малую величину S н, можно только при условии техниче­ски грамотного построения такой схемы. Удовлетворительную ста­бильность режима работы схемы ОЭ можно получить, включая в цепь эмиттера транзистора резистор Rэ и подавая смещение на ба­зу с делителя напряжения из резисторов Rсм и Rб (рис. 3. 1, в и г).

Принципы улучшения температурной стабильности. Стабилиза­ция тока коллектора в схемах по рис. 3.1, в и г достигается действием отрицательной обратной связи по постоянному току, сущность кото­рой заключается в следующем. Резисторы Rб и Rэ можно рассматри­вать как включенные последовательно между базой и эмиттером. Падение напряжения на резисторе Rб, от проходящего по нему тока делителя создает на эмиттерном переходе прямое смещение. Вместе с тем падение напряжения на резисторе Rэ, возникающее вследствие прохождения по нему тока эмиттера, создает на эмиттерном перехо­де обратное смещение. Результирующее смещение на эмиттерном переходе получается прямым и равным разности напряжений на ре­зисторах Rб и Rэ.

При увеличении тока коллектора (следовательно, и тока эмит­тера) вследствие повышения температуры падение напряжения на резисторе R э увеличивается, прямое смещение на эмиттерном пере­ходе становится меньше, а это ведет к уменьшению тока коллектора: имеет место действие, обратное действию температуры, схема стре­мится возвратиться в исходное состояние.

В схемах по рис. 3. 1, д и е механизм действия отрицательной об­ратной связи по постоянному току иной: при увеличении коллектор­ного тока постоянная составляющая напряжения на нагрузочном резисторе в цепи коллектора возрастает и напряжение между кол­лектором и эмиттером уменьшается. Так как коллектор соединен с базой через резистор Rcw, то одновременно снижается напряжение между базой и эмиттером, т. е. прямое смещение на эмиттерном пе­реходе. Последнее вызывает уменьшение коллекторного тока. При понижении температуры наблюдаются обратные явления. Последние две схемы, особенно схема по рис. 3.1, е, в отношении температурной стабильности значительно хуже, чем схемы на рис. 3.1, в и г.

Расчет каскадов. Пользуясь формулами табл. 3.5, можно рассчи­тать цепи питания транзисторных каскадов с заданными коэффици­ентами нестабильности S н, а также определить значения Sн таких каскадов с известными сопротивлениями резисторов (на схемах в табл. 3.5 конденсаторы, шунтирующие резисторы в цепях эмиттеров, и конденсаторы развязывающих цепей не показаны).

 

 

 

 


Продолжение таблицы 3.5

 


Парамет­ры Основные соотношения Номер формулы
Sн   3-26а
Sн ~ .. ~ (3-26б)
Rэ   (3-27)
Rсм (3-28)
R б (3-29a)
R б ~ (1-29б)
           

 

Из формул (3-26) непосредственно следует, что коэффициенты нестабильности Sн каскадов по наиболее распространенным схемам Д и Е (соответствуют схемам рис. 3. 1, в и г) при увеличении сопро­тивления резистора R э в цепи эмиттера и при уменьшении сопро­тивлений резисторов Rб и R см в делителе напряжения уменьшаются, т. е. стабильность тока коллектора I к улучшается. Поэтому сопро­тивление резистора Rэ целесообразно выбирать возможно большим (не допуская снижения напряжения Uк.э. до величины Uк.н.). При этом приходится увеличивать и сопротивления резисторов Rсм и Rб, что ведет к уменьшению потребления тока делителем напряжения и к увеличению входного сопротивления каскада при резистивно-емкостной связи его с предыдущим каскадом (рис. 3.1, е).

Если питание транзисторного каскада осуществляется через ин­дивидуальный развязывающий RС-фильтр, включенный между отри­цательным полюсом источника питания и резистором или катушкой индуктивности в цепи коллектора (транзистор структуры р-п-р, «заземлен» положительный полюс источника питания), то при рас­чете коэффициента нестабильности следует пользоваться формулами (3-26) для схем Ж к И в табл. 3.5, принимая величину Rк за сопро­тивление резистора упомянутого фильтра. Когда же, как показано на схеме Ж, включен резистор междукаскадной связи, то в форму­лу (3-26) следует подставлять значение Rк, равное сумме сопротив­лений резисторов связи и фильтра. Если же резистором междукас­кадной связи является резистор Rк1 (схема И), то при расчете его сопротивление во внимание не принимают.

 







Дата добавления: 2015-10-12; просмотров: 1465. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!



Обзор компонентов Multisim Компоненты – это основа любой схемы, это все элементы, из которых она состоит. Multisim оперирует с двумя категориями...

Композиция из абстрактных геометрических фигур Данная композиция состоит из линий, штриховки, абстрактных геометрических форм...

Важнейшие способы обработки и анализа рядов динамики Не во всех случаях эмпирические данные рядов динамики позволяют определить тенденцию изменения явления во времени...

ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА Статика является частью теоретической механики, изучающей условия, при ко­торых тело находится под действием заданной системы сил...

ФАКТОРЫ, ВЛИЯЮЩИЕ НА ИЗНОС ДЕТАЛЕЙ, И МЕТОДЫ СНИЖЕНИИ СКОРОСТИ ИЗНАШИВАНИЯ Кроме названных причин разрушений и износов, знание которых можно использовать в системе технического обслуживания и ремонта машин для повышения их долговечности, немаловажное значение имеют знания о причинах разрушения деталей в результате старения...

Различие эмпиризма и рационализма Родоначальником эмпиризма стал английский философ Ф. Бэкон. Основной тезис эмпиризма гласит: в разуме нет ничего такого...

Индекс гингивита (PMA) (Schour, Massler, 1948) Для оценки тяжести гингивита (а в последующем и ре­гистрации динамики процесса) используют папиллярно-маргинально-альвеолярный индекс (РМА)...

Характерные черты официально-делового стиля Наиболее характерными чертами официально-делового стиля являются: • лаконичность...

Этапы и алгоритм решения педагогической задачи Технология решения педагогической задачи, так же как и любая другая педагогическая технология должна соответствовать критериям концептуальности, системности, эффективности и воспроизводимости...

Понятие и структура педагогической техники Педагогическая техника представляет собой важнейший инструмент педагогической технологии, поскольку обеспечивает учителю и воспитателю возможность добиться гармонии между содержанием профессиональной деятельности и ее внешним проявлением...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.012 сек.) русская версия | украинская версия