Цель занятия

 

 

 

КТ315А СБ0.336.030ТУ

KT209E АА0.336.065ТУ

 

 

КТ3102Б ААО.336.122ТУ

 

 

 

 

КТ3107Б аА0.336.170 ТУ

КТ503

 

 

 

КТ815Б

 

 

КТ818Б

КТ817

КТ940А

IRF1405 MOSFET N-Channel, Metal Oxide International Rectifier

 

К140УД1А ЩИ4 106. 013 ТУ

 

 

 

 

TSOP 1736 VishayTelefunken Intertechnology Inc

 

 

1508ПЛ1

 

 

 

 

К155ЛА3, K155ЛА6, КР1533ЛА3, K1533ИЕ2, K1533ИЕ4, 176ЛА7, К176ИЕ4, K561ЛА7, PIC16F676 Microchip

 

 

 

K561ИЕ16, КП512ПС10

 

 

PIC16F84A Высокопроизводительный RISC-процессор:

 

РЭС6

 

ВДМ1-8 Knitter-Switch ПDIP-08\16P2,5\ON-OFF\\ВДМ1-8\

 

Кварц РК422-4АК-264 кГц

 

 

АЛС324Б

 

 

 

КИПЦ22Г2-2/8Л1

 

 

BA56-12EWA Kingbright

 

 

Контрольные испытания методом последовательного анализа

Методика организации и обработки результатов контрольных испытаний на надежность

Цель занятия

Закрепление знаний по организации контрольных испытаний, правилам принятия решений о соответствии изделий установленным уровням надежности, а также привитие практических навыков выбора плана испытаний и способа статистической обработки их результатов.

В результате проведения занятий студенты должны:

знать назначение контрольных испытаний; основные статистические методы контроля надежности; методику организации проведения испытаний различными методами при заданных уровнях надежности и величинах ошибок первого и второго рода;

уметь выбрать метод контрольных испытаний; рассчитать планы контроля по числу зарегистрированных отказов для заданной длительности испытаний; принять решение о соответствии или несоответствии контро­лируемых изделий установленному уровню надежности или о продолжении испытаний.