Дослідження систематичних помилок оптичного мікрометра
Література: [1] стор. 199-200, [6] стор. 14-15. Зсув шкали оптичного мікрометра на n поділок повинен відповідати певному переміщенню зображень штрихів лімба. Якщо умова не виконується, це приводить до систематичних помилок оптичного мікрометра. Помилки визначаються вимірюванням малих кутів, які ціле число разів укладаються в довжині шкали мікрометра. Кут для теодоліта 2Т2 приймають 2΄. Вимірюють кут п'ятьма прийомами з перестановкою шкали мікрометра, вказаній у
На листі паперу наносять візирну марку у вигляді двох паралельних штрихів завтовшки 0,2-0,3 мм. Відстань між штрихами ℓ визначається формулою: , (3) де S – відстань від теодоліта до марки. Марку закріплюють на стіні. На кожній установці вимірювання кута виконують двічі. Спочатку зорову трубу наводять на лівий, а потім на правий напрям. Потім вимірювання проводять в зворотній послідовності. Виконують два прямих і два зворотніх ходи. При прямому ході кут виміряють, дотримуючись послідовність установок 1, 2, 3, 4, 5. У зворотному ході спостере-ження ведуть в зворотній послідовності. З отриманих значень υ беруть середнє (табл. 3). Середнє υ у теодоліта 2Т2 не повинне перевищувати 1,5².
Таблиця 3 – Дослідження систематичних помилок оптичного мікрометра теодоліта 2 т2 Спостерігач: Камянська О. Дата: 10.03.2004 р.
14,6″
Питання для самостійної роботи 1. Методика визначення систематичних помилок оптичного мікрометра. 2. Порядок вимірювання малого кута.
|