Студопедия — Стислі теоретичні відомості. Часові параметри і характеристики транзисторів визначають і досліджують в ключовому режимі
Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Стислі теоретичні відомості. Часові параметри і характеристики транзисторів визначають і досліджують в ключовому режимі






Часові параметри і характеристики транзисторів визначають і досліджують в ключовому режимі. Велике значення має тривалість перемикання, що обмежує швидкодію радіоелектронної апаратури. Цей параметр визначається процесами накопичування і розосередження нерівноважного заряду в базі, в колекторі транзистора, в емітерному і колекторному переходах.

Під час використання транзистора як ключа він знаходиться в режимі відсічки (закритий стан), або в режимі насичення. В першому випадку в колі колектора і в колі бази протікає малий зворотний струм ICB 0, і напруга на виході ключа в схемі з ЗЕ:

UCE = Ec - RcICB 0Ec.

При подачі на вхід імпульсів прямого струму достатнього значення транзистор відкривається і переходить в режим насичення. Напруга колекторного переходу UCEsa t= Ec - R c Icsat виявляється прямою. Колекторний перехід відкривається і починається інжекція дірок (в транзисторі p-n-p типу) з колектора в базу. Таким чином, у даному випадку дірки інжектують в базу з обох переходів – емітерного і колекторного. В режимі насичення при збільшенні вхідного струму IB струм колектора майже не зростає, збільшується тільки інжекція носіїв заряду з колектора в базу і відповідно нерівноважний заряд бази. Перепад вихідної напруги транзисторного ключа

ΔU BИX = UCEвід – UCEsat= Rc(ICsat - ICB 0 ).

Процеси нагромадження і розосередження заряду істотно впливають на форму імпульсів на виході ключа. Графіки напруг і струмів транзистора при переключенні зображені на рис. 5.1.

У початковому стані транзистор закритий за допомогою джерела постійного зміщення EB (рис. 5.1, а). При надходженні на вхід прямокутного імпульсу прямої напруги U BX в колі бази протікає струм IBE, величина якого визначається за значенням опору емітерного переходу rE і резистора в колі бази RB. Так як RB >> rE, то IBE= (UBX –EB)/RB.

Після закінчення імпульсу (переключення напруги емітерного переходу на зворотну) зворотний струм переходу, як і в діоді, має значне початкове значення, обмежене лише опором в колі бази (RB): IBE = EB / RB. Опір емітерного переходу в перший момент після переключення дуже малий внаслідок насичення бази нерівноважними носіями заряду. У міру розосередження нерівноважного заряду зворотний опір емітерного переходу зростає і струм бази прагне до значення, що встановилося IBE 0 (рис. 5.1, б).

При прямокутній формі імпульсу вхідного струму IB імпульс вихідного струму (рис. 5.1, в) з'являється із затримкою td, що визначається головним чином тривалістю пересування інжектованих носіїв заряду до колекторного переходу. Час затримки визначається інтервалом часу між моментом, коли вхідний імпульс досяг 10 % свого усталеного значення, та моментом, коли вихідний імпульс також досягає 10 % свого усталеного значення. Після того, як транзистор перейде з режиму відсічки в активний режим, колекторний струм починає поступово зростати, досягаючи сталого значення за час tr, що визначається інтервалом часу, протягом якого вихідний імпульс зростає від 10 % до 90 % свого усталеного значення, і залежить від швидкості накопичування нерівноважного заряду в базі та швидкості розряду ємності колектора. Таким чином, повний час увімкнення транзистора складається з часу затримки і тривалості зростання:

ton = td + tr.

Після подачі в коло бази зворотної напруги, що закриває емітерний перехід, вихідний (колекторний) струм припиняється не відразу. Протягом деякого часу-тривалості розосередження ts він практично зберігає значення, бо концентрація носіїв заряду в базі біля колекторного переходу ще залишається вищою за рівноважну і колекторний перехід внаслідок цього продовжує залишатися відкритим (рис. 5.1, в, г).

Лише після того, як нерівноважний заряд у колекторному переході розосереджується за рахунок виходу дірок з бази і рекомбінації, струм колектора починає поступово спадати, досягаючи протягом тривалості спадання tf значення ICB 0. Протягом цього часу триває розосередження нерівноважного заряду бази і відбувається перезаряд ємності колекторного переходу. Емітерний перехід при цьому може закритися раніше або пізніше колекторного залежно від швидкості розосередження нерівноважного заряду, зосередженого поблизу від нього. Процес накопичування і розосередження нерівноважного заряду бази qB при переключенні транзистора зображений на рис. 5.1, г. Накопичування починається через інтервал, що визначається тривалістю затримки td. Заряд за час наростання tr досягає значення q’B = Q акт за рахунок інжекції носіїв заряду з емітерного переходу. Далі в режимі насичення заряд бази зростає за рахунок інжекції носіїв як з емітерного, так і з колекторного переходів, досягаючи значення q”B = Qакт. Після розосередження нерівноважного заряду бази, за час вимкнення toff = ts + tf заряд в базі досягає нульового значення.

Величини ton і toff є визначальними при оцінці можливості використання транзисторів в апаратурі із заданою швидкодією.

На рис. 5.1, д показана осцилограма імпульсу напруги, що формується на виході ключа на БТ типу p-n-p.

Однієї з головних проблем при підвищенні швидкодії ключів є зменшення часу розосередження надлишкового заряду. Для цього, потрібно зменшити амплітуду вхідного сигналу, а значить струм бази (рис. 5.1, б), тобто – ступінь насичення S = IB/IBsat. Але при цьому зростає тривалість зростання. Крім того, в реальних умовах ступінь насичення повинен перевищувати мінімальне значення S min (значення S = 1 відповідає кордону з активним режимом). Інакше невелике зменшення коефіцієнта b або струму бази переводять транзистор в активний режим, а це супроводжується збільшенням залишкової напруги на ключі.

Поширеним способом відвернути насичення транзистора і в той же час уникнути відмічених ускладнень є використання в ключі нелінійного зворотного зв'язку. Для цього між колектором і базою транзистора вмикають діод Шотткі (рис. 5.2).

Коли транзистор замкнутий або працює в активному режимі, потенціал колектора позитивний відносно бази (при використанні транзисторів n-p-n). Отже, діод знаходиться під зворотним зміщенням, має великий опір і не впливає на роботу ключа. Коли в процесі формування фронту потенціал колектора відносно бази проходить через нуль і стає негативним, діод відмикається і на ньому встановлюється пряма напруга. Якщо ця напруга менша за 0,5 В (що характерно для діодів Шотткі), то колекторний перехід залишається практично замкнутим, а значить, вимикається режим подвійної інжекції і накопичування надлишкового заряду, властивий режиму насичення. В результаті при закриванні ключа будуть відсутні етап розосередження надлишкового заряду та затримки спаду. Комбінація транзистора і діода Шотткі отримала назву

 

Рис. 5.1. Осцилограми: а - вхідного сигналу;

б - струму бази; в - струму колектора; г - заряду в базі;

д - напруги колектора в ключі на БТ типу р-n-p

транзистора з бар'єром Шотткі й широко використовується в інтегральній схемотехніці.

Слід підкреслити, що, незважаючи на відсутність насичення, ключ з бар'єром Шотткі мало чутливий до змін коефіцієнта передачі струму b і струму, що відмикає, оскільки залишкова напруга мало залежить від цих величин. Час затримки і тривалість зростання виявляються такими же, як і в насиченому ключі.

 

Рис. 5.2. Принципова електрична схема для дослідження

перехідних процесів в БТ із спільним емітером

 

Література: [1, c. 92-100]; [3, c. 99-101]; [4, c. 135-138]; [14].

 







Дата добавления: 2015-09-19; просмотров: 464. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!



Композиция из абстрактных геометрических фигур Данная композиция состоит из линий, штриховки, абстрактных геометрических форм...

Важнейшие способы обработки и анализа рядов динамики Не во всех случаях эмпирические данные рядов динамики позволяют определить тенденцию изменения явления во времени...

ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА Статика является частью теоретической механики, изучающей условия, при ко­торых тело находится под действием заданной системы сил...

Теория усилителей. Схема Основная масса современных аналоговых и аналого-цифровых электронных устройств выполняется на специализированных микросхемах...

ПУНКЦИЯ И КАТЕТЕРИЗАЦИЯ ПОДКЛЮЧИЧНОЙ ВЕНЫ   Пункцию и катетеризацию подключичной вены обычно производит хирург или анестезиолог, иногда — специально обученный терапевт...

Ситуация 26. ПРОВЕРЕНО МИНЗДРАВОМ   Станислав Свердлов закончил российско-американский факультет менеджмента Томского государственного университета...

Различия в философии античности, средневековья и Возрождения ♦Венцом античной философии было: Единое Благо, Мировой Ум, Мировая Душа, Космос...

Словарная работа в детском саду Словарная работа в детском саду — это планомерное расширение активного словаря детей за счет незнакомых или трудных слов, которое идет одновременно с ознакомлением с окружающей действительностью, воспитанием правильного отношения к окружающему...

Правила наложения мягкой бинтовой повязки 1. Во время наложения повязки больному (раненому) следует придать удобное положение: он должен удобно сидеть или лежать...

ТЕХНИКА ПОСЕВА, МЕТОДЫ ВЫДЕЛЕНИЯ ЧИСТЫХ КУЛЬТУР И КУЛЬТУРАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА МИКРООРГАНИЗМОВ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЛИЧЕСТВА БАКТЕРИЙ Цель занятия. Освоить технику посева микроорганизмов на плотные и жидкие питательные среды и методы выделения чис­тых бактериальных культур. Ознакомить студентов с основными культуральными характеристиками микроорганизмов и методами определения...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.007 сек.) русская версия | украинская версия