Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

АННОТАЦИЯ





ТЕОРИЯ И РАСЧЕТ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Раздел: Полевые транзисторы

Часть II

Лабораторный практикум

 

 

Москва 2001

АННОТАЦИЯ

В настоящем пособии приводятся описания лабораторных работ, предназначенных для детального и углубленного изучения физических процессов в приборах и структурах современной полупровод­никовой электроники - полевых транзисторах с управляющим перехо­дом и МДП-структурой, вольт-фарадных характеристик структур металл - диэлектрик - полупроводник.

Работы предназначены, главным образом, для студентов специальности 2001 ("Электроника и микроэлектроника ") по направлению 5507 (”Электроника и микроэлектроника”).

 

 

Московский государственный институт стали и сплавов (МИСиС) 2001

 

ОСНОВНЫЕ ПРАВИЛА ТЕХНИКИ БЕЗОПАСНОСТИ ПРИ ВЫПОЛНЕНИИ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ

- Выполнение лабораторных работ связано с использованием электрорадиоизмерительных приборов и стендов, являющихся источ­никами повышенной опасности, так как некоторые элементыих находятся под высоким напряжением. Поэтому к лабораторным работам студенты допускаются только после инструктажа по технике беэо-пасности, о получении которого должны свидетельствовать их лич­ные подписи в специальном журнале.

- Студент, работающий в лаборатории, обязан руководство­ваться инструкциями и всеми дополнительными указаниями препода­вателей о соблюдении мер безопасности при работе с установками. Выполнение работ в отсутствии преподавателя или лаборанта запре­щается.

- Студенты, лично не выполняющие правила техники безопасности, или допускающие их нарушения в отношении других лиц, отстраняются от выполнения работ и привлекаются к ответственности.

- Запрещается загромождать столы и рабочее место посторон­ними предметами (сумками, портфелями, чемоданами, одеждой) и при­борами не относящимися непосредственно к выполняемой работе.

- Перед выполнением практической части лабораторного задания необходимо внимательно ознакомиться с описанием работы, схе­мой включения приборов, обратив особое внимание не цепи, нахо­дящиеся под повышенным напряжением.

- Прежде, чем включать всеть электрорадиоизмерительные при­боры и стенды, необходимо убедиться в наличии надежного зануления корпусов приборов. Работа с незануленными или неисправными при­борами, установками и стендами, не имеющими защитных кожухов – запрещается.

- Первое включение собранной схемы, а также ее включение после внесения изменений производится только с разрешения преподавателя или лаборанта.

- Пользоваться, кабелями питания с поврежденной изоляцией проводников, вилок, разъемов, а также поврежденными штепсельными розетками запрещается.

- Все производимые в схеме установки изменения, снятие испытуемых приборов и переключения должны осуществляться только в полностью обесточенных цепях. После подачи напряжения прикосновение к открытым токоведущим частям схемы или исследуемых полупроводниковых приборов запрещается.

- При пользовании переносными электрорадиоизмерительными приборами (например, тестерами), последние должны располагаться на стеллажах или столах. Запрещаемся во время измерений держать эти приборы в руках или на коленях.

- Запрещается оставлять без надзора включенные установки и приборы.

- Запрещается бесцельное хождение no лаборатории, посторон­ние разговоры, отвлечение других от выполняемой работы.

- При обнаружении неисправности в оборудовании (погасание индикаторной дампы, искрение, дым и т.п.) или резком зашкаливании измерительных приборов необходимо принять меры к немедленному обесточиванию приборов и устранению неисправности вместе с преподавателем иди лаборантом и по их указаниям.

- Если произошел несчастный случай, то необходимо немедлен­но отключить установку от сети, сообщить о случившемся преподавателю иди лаборанту и оказать первую помощь пострадавшему.

 

Лабораторная работа №7

 

Изучение статических вольт-амперных характеристик полевых транзисторов с затвором в виде p-n перехода и барьера Шоттки.

 

(4 часа)

I. Цель работы

 

Изучение статических вольт-амперных характеристик и определение основных параметров полевых транзисторов с затвором в виде p-n перехода и барьера Шоттки.

 

II. Введение

 

Полевой транзистор с p-n переходом в качестве затвора выполняет функцию резистора, управляемого напряжением. Проводимость канала полевого транзистора с p-n переходом в качестве затвора определяется основными носителями, поэтому его также называют «униполярным» транзистором. Принцип действия полевого транзистора типа металл – полупроводник (МП-транзистор) идентичен принципу работы полевого транзистора с p-n переходом в качестве затвора. Разница состоит лишь в том, что в МП-транзисторе в качестве затвора использован выпрямляющий контакт металл-полупроводник (барьер Шоттки).

На рис.1 представлены схемы неуправляемого резистора (рис.1, а), полевого транзистора с p-n переходом (рис. 1,б) и МП-транзистора (рис.1,в).

Особенностью работы полевых транзисторов с p-n переходом и МП-транзисторов является то, что управление выходным током осуществляется за счет изменения геометрических размеров канала, а, следовательно, его полной проводимости.

Полевые транзисторы обладают достоинствами при их использовании в аналоговых переключателях, усилителях с высокоомным входом, СВЧ-усилителях и интегральных схемах. Они имеет более высокое входное сопротивление, чем биполярные транзисторы. Так как полевые транзисторы являются униполярными приборами, они не чувствительны к эффектам накопления неосновных носителей, и поэтому имеют более высокие граничные частоты и скорости переключения.

Полевой транзистор с p-n переходом в качестве затвора представляет собой проводящий канал с двумя омическими контактами – стоком и истоком. Третий электрод структуры – затвор – образует выпрямляющий с каналом p-n переход. Сопротивление канала будет изменяться с изменением толщины области пространственного заряда (ОПЗ), распространяющейся в канал. Рассмотрим основные режимы работы ПТ на модели проводящего n-канала, ограниченного двумя р+областями.

а) Напряжения прикладываемые к электродам:UС-напряжение поданное на электрод сток; UЗ-напряжение поданное на затвор; UИ-напряжение на истоке. На рис.2а указаны основные размеры, характеризующие рассматриваемую структуру: длина канала L; его толщина a, а также локальная ширина обедненного слоя h и соответствующая локальная толщина проводящего канала b при условии, что UС=UЗ=UИ=0. В отсутствии напряжений смещения прибор находится в термодинамическом равновесии, и все токи равны нулю. Ширина ОПЗ в этом случае определяется только контактной разностью потенциалов и уровнем легирования областей n и р+: WОПЗ1=f(jk).

б) UС = UИ = 0, UЗ<0 (рис.2 б). Полярность приложенных напряжений соответствует n-канальному полевому транзистору (для p-канального прибора полярность напряжений питания должна быть противоположной). В этом случае р+n переход оказывается обратно смещенным и WОПЗ2= f(jk+UЗ) > WОПЗ1 и, следовательно, толщина канала уменьшилась.

в) UИ = 0, UС>0, UЗ<0 (рис.2 в). При таком режиме работы транзистора ширина ОПЗ (и следовательно толщина канала) со стороны стока и истока будет разной, поскольку: со стороны истока р+n переход будет находится под потенциалом jk+UЗ и WОПЗ= f(jk+UЗ), а со стороны стока добавляется потенциал стока (обратное смещение р+n переход) на и WОПЗ= f(jk+UЗ+UС). При фиксированном напряжении на затворе (нулевом или отрицательном) и дальнейшем увеличении напряжения на стоке возникает момент, когда область пространственного заряда занимает весь канал (рис.2 г). Напряжение на стоке в этом случае называется напряжением стока насыщения UCнас, а протекающий в канале ток – током стока насыщения IСТ НАС.

Напряжение отсечки при котором канал перекрывается областью пространственного заряда равно: Uотс=jk+UЗ+UСнас. При дальнейшем увеличении напряжения на стоке ток стока изменяется слабо и остается примерно равным току насыщения до тех пор, пока не начнется лавинный пробой p+n-диода затвор-канал, после чего ток стока резко возрастает при увеличении напряжения.

Типичные вольт-амперные характеристики полевого транзистора с p-n переходом представлены на рис. 3. На этих характеристиках следует различать четыре области: линейную (при малых напряжениях на стоке), где ток стока пропорционален напряжению на стоке; переходную область, более слабого роста тока из-за полевой зависимости подвижности; область насыщения, где ток стока IC не зависит от напряжения стока; область пробоя, где ток стока стремительно растет при сравнительно небольших приращениях напряжения на стоке.

 

Проведем анализ вольт-амперных характеристик длинноканального (L>>a) полевого транзистора с p-n переходом, воспользовавшись следующими предположениями:

1) приближением плавного канала;

2) независимостью подвижности носителей заряда от электрического поля.

Учитывая симметрию модели ПТ-транзистора с р+-n переходом, рассмотрим только верхнюю половину полевого транзистора (рис. 4).

Приближение плавного канала состоит в том, что для распределения потенциала в обедненном слое можно записать одномерное уравнение Пуассона, решив которое можно найти потенциал в любой плоскости области пространственного заряда:

(1)

где Ey – поперечное электрическое поле;

r(y) – распределение плотности зарядов, зависит от распределения легирующей примеси, r(y)=qf(ND). Например, для равномерно легированного донорами с концентрацией ND канала r(y)=qND.

Интегрируя выражение (1) получим выражение для поля Еy:

Константа определяется из условия резких границ: поле существует только в области пространственного заряда, вне его поле равно нулю: y=h, Eh=0:

, т.е.

Обозначив получим, после второго интегрирования выражение для потенциала в любой плоскости y-U(y):

и при y=h, то есть на границе области пространственного заряда:

Если ширина области пространственного заряда занимает всю толщину канала, y=a, то напряжение при котором реализуется этот случай называется напряжением отсечки:

(2)

Для вывода и анализа ВАХ воспользуемся дифференциальным законом Ома: jст=s(y)Ex, где jст - плотность тока, протекающего через канал, который называется током стока, s(y)=qn(y)mn – удельная электропроводность канала, зависящая от распределения электронов по толщине канала.

Интеграл плотности тока по всей толщине проводящего канала от y=h до y=a определяет полный ток стока

(3)

где z – ширина канала.

После некоторых преобразований, выражение для плотности тока запишется в виде:

, (4)

где , для однородно легированного канала

(5)

При фиксированном напряжении на затворе - UЗ максимальное значение тока (ток насыщение IС.НАС) равно:

Рассмотрим физическую модель возникновения тока насыщения. С увеличением напряжения стока до UС.НАС электрическое поле в канале со стороны стока достигает критического значения ЕКРИТ, скорость электронов – скорости насыщения, а ток транзистора начинает насыщаться. При дальнейшем увеличении напряжения стока (UC>UС.НАС) область пространственного заряда расширяется к стоку, а место, где электроны впервые достигают скорости насыщения, смещается в противоположном направлении, т.е. к истоку. По мере продвижения от истока к стоку потенциал в канале растет, ширина ОПЗ увеличивается, а проводящий канал сужается. Но поскольку скорость электронов в этой области уже не зависит от электрического поля и равна скорости насыщения, для компенсации этого сужения канала и обеспечения сохранения полного тока концентрация электронов здесь увеличивается и становится больше концентрации доноров. Таким образом, часть канала, где скорость электронов равна скорости насыщения, оказывается отрицательно заряженной, а примыкающая к ней со стороны стока область из-за нехватки электронов – положительно. Следовательно, часть напряжения стока, избыточная над UС.НАС, падает на дипольном слое, который расширяется в стоковой части канала при дальнейшем росте напряжения на стоке.

Крутизна характеристики полевого транзистора определяется как изменение тока стока при изменении напряжения на затворе. В данном случае от напряжения на затворе (при постоянном напряжении на стоке) зависят положения границ области пространственного заряда h1 и h2. Поэтому

Рассчитывая частные производные, получаем общее выражение для крутизны полевого транзистора

Проводимость канала определяется, как изменение тока стока при изменении напряжения на стоке при постоянном напряжении на затворе

В линейной области вольт-амперной характеристики (UC®0) проводимость канала определяется выражением:

(6)

В области насыщения крутизна стокозатворной характеристики равна:

(7)

Отметим полную идентичность выражений (6) и (7).

На рис.5 изображены вольтамперные характеристики реального n-канального полевого транзистора КП313. Как видно из этих характеристик при увеличении отрицательного напряжения на затворе напряжение, соответствующее началу насыщения UС.нас, уменьшается. Это обусловлено тем, что напряжение отсечки, равное Uотс=jk+UЗ+UС.нас не должно меняться.

Переходные стокозатворные характеристики, рис. 6, выражают зависимость тока стока от напряжения на затворе при постоянном напряжении на стоке IСТ=f(UЗUст=const. Из этой зависимости определяется крутизна статической стокозатворной характеристики S:

,

которая показывает способность упрвления током стока напряжением на затворе и для данных транзисторов имеет величину порядка нескольких единиц или десятков мА/В. Приблизительно определить крутизну стокозатворной характеристики можно по тангенсу угла наклона переходной вольт-амперной характеристики:

Частотные характеристики полевых транзисторов определяются двумя основными факторами: временем пролета и временем перезарядки емкости затвора RC.

Граничной частотой полевого транзистора называется частота, при которой ток через входную емкость равен току эквивалентного генератора тока стока

2pСвх.fГР = SUЗ; fГР = S/2pСвх







Дата добавления: 2015-08-12; просмотров: 1188. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!




Важнейшие способы обработки и анализа рядов динамики Не во всех случаях эмпирические данные рядов динамики позволяют определить тенденцию изменения явления во времени...


ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕХАНИКА Статика является частью теоретической механики, изучающей условия, при ко­торых тело находится под действием заданной системы сил...


Теория усилителей. Схема Основная масса современных аналоговых и аналого-цифровых электронных устройств выполняется на специализированных микросхемах...


Логические цифровые микросхемы Более сложные элементы цифровой схемотехники (триггеры, мультиплексоры, декодеры и т.д.) не имеют...

Объект, субъект, предмет, цели и задачи управления персоналом Социальная система организации делится на две основные подсистемы: управляющую и управляемую...

Законы Генри, Дальтона, Сеченова. Применение этих законов при лечении кессонной болезни, лечении в барокамере и исследовании электролитного состава крови Закон Генри: Количество газа, растворенного при данной температуре в определенном объеме жидкости, при равновесии прямо пропорциональны давлению газа...

Ганглиоблокаторы. Классификация. Механизм действия. Фармакодинамика. Применение.Побочные эфффекты Никотинчувствительные холинорецепторы (н-холинорецепторы) в основном локализованы на постсинаптических мембранах в синапсах скелетной мускулатуры...

Потенциометрия. Потенциометрическое определение рН растворов Потенциометрия - это электрохимический метод иссле­дования и анализа веществ, основанный на зависимости равновесного электродного потенциала Е от активности (концентрации) определяемого вещества в исследуемом рас­творе...

Гальванического элемента При контакте двух любых фаз на границе их раздела возникает двойной электрический слой (ДЭС), состоящий из равных по величине, но противоположных по знаку электрических зарядов...

Сущность, виды и функции маркетинга персонала Перснал-маркетинг является новым понятием. В мировой практике маркетинга и управления персоналом он выделился в отдельное направление лишь в начале 90-х гг.XX века...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2024 год . (0.01 сек.) русская версия | украинская версия