Патентний пошук по базі даних патентного відомства Японії

8.1 Проведення тематичного (предметного) патентного пошуку (за індексом МПК та за ключовими словами в назві)

 

Патентне відомство Японії – Патентне Бюро Японії (Japan Patent Office (JPO)). Офіційна сторінка JPO в мережі Інтернет знаходиться за електронною адресою – http://www.jpo.go.jp/. Безпосередньо патентна документація знаходиться за такою електронною адресою http://www.ipdl.inpit.go.jp/homepg.ipdl. Робочі мови – японська, англійська. Для переходу на англійський інтерфейс необхідно нажати на посилання To English Page, яке знаходиться в правому верхньому куті вікна.

Для переходу на сторінку національної бази патентного відомства (The Industrial Property Digital Library (IPDL)) необхідно натиснути на посилання з цією назвою.

IPDL забезпечує близько 84 млн. документів, патентів, корисних моделей, промислових зразків і товарних знаків і їх відповідною інформацією, які були опубліковані, починаючи з кінця 19 століття.

У розділі патентів і корисних моделей «Patent & Utility Model» IPDL є наступні види пошуку:

- «Patent & Utility Model Gazette DB» – пошук патентів і корисних моделей в бюлетені за номером патентного документа;

- «Patent & Utility Model Concordance» – пошук патентів і корисних моделей - членів сімейств за номером патентного документа;

- «FI / F - term Search» – пошук документів за японською патентною класифікацією FI (заснована на міжнародній патентній класифікації, але розширена в деяких областях) і F-term (оригінальна фасетна класифікація);

- PAJ («Patent Abstracts of Japan») – пошук рефератів опублікованих заявок на видачу патенту Японії (тільки англомовні реферати з 1976 р.);

- «Patent Map Guidance» – пошук підходящої рубрики японської національної патентної класифікації.

Для переходу в пошукову систему «Patent Abstracts of Japan» потрібно перейти за посиланням PAJ, в якому надається можливість проведення пошуку в тексті та нумераційного. Щоб провести пошук за індексом МПК необхідно задати в пошукове поле «IPC» індекс, наприклад G01V1/16 та натиснути «Search». Якщо потрібно задати декілька індексів МПК, то їх потрібно ввести через прогалину, наприклад G01V1/16 G01V1/18 (рисунок 18, а). Після цього з’явиться надпис «Search Results» з кількість результатів, для їх перегляду потрібно натиснути на посилання «Index Indication», після чого з’явиться список результатів (рисунок 18, б). Для перегляду знайдених патентів потрібно натиснути «Search», для повернення в пошукову систему «MENU», для переходу між сторінками результатів NEXT (вперед) і BACK (назад). Щоб переглянути патент – натиснути на виділене посилання номера публікації.

а)

б)

Рисунок 18 – Приклад патентного пошуку за індексом МПК:
а – пошуковий запит; б – результати пошуку.

Для пошуку патентів за ключовими словами в назві також скористаємося пошуковою системою «Patent Abstracts of Japan». В полі «Applicant,Title of invention,Abstract» задаємо шукану назву, наприклад seismic sensor, при цьому кожне слово окремо в полі та з’єднуємо логічним оператором AND (і) (рисунок 19, а). Також при необхідності можна скористатися логічним оператором OR (чи). Також ключові слова можна задати разом в одному полі через прогалини. Перегляд результатів описаний в попередньому пункті. Результат пошуку на рисунку 19, б.

а)

б)

Рисунок 19 – Приклад патентного пошуку за ключовими словами в назві: а – пошуковий запит; б – результати пошуку.