Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Факторы накопления





 

Поле фотонного излучения в реальных задачах определяется не только не рассеянным излучением источника, но и рассеянными фотонами, которые испытали однократное или многократное (2 и более) взаимодействий в воздухе или материале поглотителя. Кроме этого, в детектор попадает также вторичное излучение: аннигиляционное, характеристическое, тормозное. Геометрию, при которой детектор регистрирует не рассеянное (первичное), рассеянное излучения, а также вторичное излучение, называют геометрией широкогопучка или "плохой" геометрией (рис.2).

Выражения для ослабления мононаправленного параллельного пучка очень удобны для расчета ослабления излучения в веществе. Чтобы сохранить простоту записи и при этом учесть рассеянное излучение поступают следующим образом. Рассеянное в среде излучение источника и вторичное излучение учитывают введением в закон ослабления в геометрии узкого пучка сомножителя - фактора накопленияфотонного излучения :

Из этой формулы следует, что представляет собой отношение общего числа фотонов (не рассеянных, рассеянных и вторичных) к числу не рассеянных фотонов, которое определяется как .

 

 

Рис. 2. Схема эксперимента в геометрии широкого пучка:

S – источник, К – коллиматор, П – поглотитель, Д – детектор

 

Можно сказать, что фактор накопления (ФН) равен отношению показания детектора при измерении в геометрии широкого пучка к показанию детектора при измерении в геометрии узкого пучка.

ФН зависит от многих условий задачи: от того, какая характеристика поля излучения регистрируется, от геометрии, от спектра и углового распределения источника, от толщины и материала защиты, от взаимного расположения источника и детектора.

В зависимости от регистрируемых характеристик поля излучения различают следующие ФН (определения даются для первичного излучения с энергией Е0).

Числовой ФН (для плотности потока фотонов j):

Вч(х) = ò j(Е,x) dE / j(Е0,x)

Энергетический ФН(для интенсивности фотонов):

Вэ(х) = ò j(Е,x)E dE / (j(Е0,x)×Е0)

Дозовый ФН(для поглощённой дозы в воздухе, для экспозиционной дозы):

ВD(х) = ò j(Е,x) E аmв(E) dE / (j(Е0,x) Е0 аm в0)),

здесь аmв(Е) – коэффициент поглощения энергии фотонов в воздухе.

ФН поглощённой энергии (для поглощённой в среде энергии):

Вп(х) = ò j(Е,x) E аmср(E) dE / (j(Е0,x) Е0 аmср0)),

здес аmср(Е) – коэффициент поглощения энергии в данной среде.

Отметим, что дозовый ФН равен ФН поглощённой энергии в воздухе.

Удобство применения ФН заключается также в том, что он изменяется достаточно плавно в зависимости от x, Е0 и Z вещества и можно проводить достаточно точную интерполяцию ФН по ограниченному числу расчётных и экспериментальных данных. Наиболее часто используют следующие аппроксимационные формулы:

Формула Бергера:В(mx) = 1+a ×;mx×exp(b×mx) (mx < 10)

Коэффициенты а и bприводятся в специальных таблицах.

Формула ТейлораВ(Е0, mx, Z) = А1exp(-a1×mx) + (1-А1) exp(-a2×mx).

Коэффициенты А1, a1 , a2 имеются в таблицах в литературе.

 

Основные закономерности поведения фактора накопления:

· ФН монотонно возрастает с увеличением толщины вещества, так как увеличивается доля фотонов, испытавших рассеяние. Для высоких энергий и материалов с небольшими Z скорость возрастания ФН почти линейная от толщины. Для элементов с большим Z ФН растет медленнее за счет большего фотопоглощения.

· ФН возрастает при увеличении изотропии источника, при этом для постоянного расстояния между источником и детектором справедливо следующее соотношение: В¥ > В бар > В огр, т.е. наибольший ФН в бесконечной среде.

· ФН при одной энергии фотонов больше в веществах с меньшим Z, где меньше сечение фотоэффекта, который приводит к поглощению излучения; при большой энергии фотонов он больше в веществах с большим за счёт интенсивной генерации вторичного излучения;

· ФН зависит от поперечных размеров источника и возрастает с их увеличением.

 

В отдельных случаях на больших расстояниях от источника вклад рассеянного излучения в поле излучения является преобладающим и может в десятки-сотни раз превышать вклад от не рассеянного излучения.







Дата добавления: 2015-09-04; просмотров: 557. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!




Кардиналистский и ординалистский подходы Кардиналистский (количественный подход) к анализу полезности основан на представлении о возможности измерения различных благ в условных единицах полезности...


Обзор компонентов Multisim Компоненты – это основа любой схемы, это все элементы, из которых она состоит. Multisim оперирует с двумя категориями...


Композиция из абстрактных геометрических фигур Данная композиция состоит из линий, штриховки, абстрактных геометрических форм...


Важнейшие способы обработки и анализа рядов динамики Не во всех случаях эмпирические данные рядов динамики позволяют определить тенденцию изменения явления во времени...

Классификация холодных блюд и закусок. Урок №2 Тема: Холодные блюда и закуски. Значение холодных блюд и закусок. Классификация холодных блюд и закусок. Кулинарная обработка продуктов...

ТЕРМОДИНАМИКА БИОЛОГИЧЕСКИХ СИСТЕМ. 1. Особенности термодинамического метода изучения биологических систем. Основные понятия термодинамики. Термодинамикой называется раздел физики...

Травматическая окклюзия и ее клинические признаки При пародонтите и парадонтозе резистентность тканей пародонта падает...

Предпосылки, условия и движущие силы психического развития Предпосылки –это факторы. Факторы психического развития –это ведущие детерминанты развития чел. К ним относят: среду...

Анализ микросреды предприятия Анализ микросреды направлен на анализ состояния тех со­ставляющих внешней среды, с которыми предприятие нахо­дится в непосредственном взаимодействии...

Типы конфликтных личностей (Дж. Скотт) Дж. Г. Скотт опирается на типологию Р. М. Брансом, но дополняет её. Они убеждены в своей абсолютной правоте и хотят, чтобы...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2025 год . (0.012 сек.) русская версия | украинская версия