Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ. Для построения контрольных карт по альтернативному признаку также как и в предыдущей лабораторной работе используются результаты измерений выборки резисторов




 

Для построения контрольных карт по альтернативному признаку также как и в предыдущей лабораторной работе используются результаты измерений выборки резисторов объемом не менее 30 шт., полученные в лабораторной работе №1. Предполагается, что порядок записи результатов в таблице измерений представляет собой имитацию строгой временной последовательности изъятия резисторов и проведения измерений их сопротивлений в ходе технологического процесса. Процесс обработки результатов измерений проводится в том же порядке, что и в лабораторной работе №3.

1. Имеющаяся «временная последовательность» измерений сопротивлений резисторов (табл.1.5, лаб.раб. №1) разбивается на N групп. В данной лабораторной работе N = 10. Результаты группирования заносятся в таблицу по форме табл. 4.1, в которую далее заносятся и результаты расчетов.

Таблица 4.1

Результаты группирования измерений и расчетов параметров контрольных карт по альтернативному признаку для технологического процесса производства резисторов

 

№ группы R1 R2 Rm   Объем группы Количество дефектов в группе Доля дефектов в группе Количество дефектов на единицу продукции  
               
               
               
j                
               
N                

 

2. Для определения количества дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям) в группе используется прием, имитирующий образование дефектов.

2.1. Вычисляется величина среднего квадратического отклонения для всей выборки измерений (изделий) по формуле ,

где - измеренное значение сопротивления резистора;

- количество измерений (изделий) в выборке;

-математическое ожидание.

2.2. Определяется доверительный интервал для математического ожидания по формуле

,

где - коэффициент Стьюдента, определяемый по табл.П.1.1 для данного распределения при доверительной вероятности 0,9.

2.3. Вычисляются границы для .

Нижняя граница = + , верхняя граница = -

2.4. В каждой группе определяется количество измерений (изделий), вышедших за пределы нижней или верхней границы. Именно они и принимаются за дефекты и заносятся в табл.4.1.

2.5. Если оказалось, что дефектов слишком мало (менее 10% от объема выборки n) или велико (более 20% от объема выборки n), то берется соответственно меньший или больший уровень доверительной вероятности Р и определяются границы, так чтобы выполнилось указанное условие.

3. По формулам п. 4.1 последовательно рассчитываются и строятся p, npи u-карты.

3. Проводится анализ контрольных карт и делаются соответствующие выводы.

 

 

СОДЕРЖАНИЕ ОТЧЕТА

Отчет должен содержать таблицы результатов измерений и расчетов и необходимые графики. Все они должны иметь названия и ссылки с пояснениями в тексте. Отчет имеет следующую структуру:

Цель работы.

1. Теоретическая часть.

2. Практическая часть.

2.1. Результаты измерений (должна быть приведена таблица результатов измерений).

2.2. Обработка результатов измерений.

2.2.1. Расчет и построение - контрольной карты средних значений.

2.2.1. Расчет и построение - контрольной карты размахов.

2.2.1. Расчет и построение - контрольной карты средних квадратических отклонений.

Выводы

 

 

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

1. В чем заключается отличие карт контроля по количественному признаку от карт контроля по альтернативному признаку?

2. Перечислить карты контроля по альтернативному признаку и для чего они применяются.

3. Привести порядок расчета и построения p-карты.

4.Привести порядок расчета и построения np-карты.

5.Привести порядок расчета и построения u-карты.

6. Какой технологический процесс является статистически контролируемым (находится под статистическим контролем)?

7. Что понимается под стабильностью в статистическом смысле?

8. В чем заключается основная цель применения контрольных карт?

 

ЛИТЕРАТУРА

1. Вентцель Е.С. Теория вероятностей. М.: Наука, 1969.

2. Смирнов Н.В., Дудин-Барковский И.В. Курс теории вероятностей и математической статистики для технических приложений. М.: Наука, 1965.

3. Обзор «Просто о сложном. Введение в статистический контроль качества производственного процесса». Серия: Все о качестве. Зарубежный опыт. Вып.11. М.: 1999г.

 

 

Метрология программного обеспечения (ПО) – дисциплина, изучающая проблемы оценивания метрических характеристик качества ПО на этапах от разработки спецификаций до завершения отладки и тестирования программного продукта. В курсе рассматриваются критерии, характеристики и метрики качества ПО; особый упор делается на характеристики корректности, надежности и сложности программ. Изучаются формальные модели и методы оценивания как статических, так и динамических характеристик качества ПО, позволяющие на различных стадиях разработки выявлять просчеты и дефекты программного изделия. Рассматриваются инструментальные средства поддержки и автоматизации измерения характеристик ПО.

 

 







Дата добавления: 2014-11-10; просмотров: 658. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!


Рекомендуемые страницы:


Studopedia.info - Студопедия - 2014-2021 год . (0.004 сек.) русская версия | украинская версия