Основные характеристики и параметры
Вольт-амперные характеристики. Режиму работы фото p - n- перехода (режиму генерации фото-э.д.с.) при разных освещенностях или световых потоках соответствуют части вольт-амперных характеристик, расположенные в
У кремниевых фото p - n- переходов плотность тока короткого замыкания при средней освещенности солнечным светом 20 – 25 мА/см2. Для кремниевых фотоэлементов при оптимальной нагрузке напряжение на нагрузке 0,35 – 0,4 В, плотность тока через фотоэлемент 15 – 20 мА/см2. В средних широтах кремниевые солнечные батареи позволяют получать с 1 м2 электроэнергию от 80 до 100 Вт. Широкое применение кремния для солнечных батарей определяется тем, что кривые поглощения кремния (аналогично и GaAs) имеют максимум в районе максимума спектра солнечного света Из фото p - n- переходов, путем их последовательного и параллельного соединения, создаются солнечные батареи, которые обладают сравнительно высоким КПД (до 20%) и могут развивать мощность до нескольких киловатт. Солнечные батареи из кремниевых фотоэлементов являются основными источниками питания на искусственных спутниках Земли, космических кораблях, автоматических метеостанциях и др. Практическое применение солнечных батарей непрерывно расширяется. Световые характеристики фото p - n- перехода (фотоэлемента) — это зависимости фото-э.д.с. (рис. 4.8) и тока короткого замыкания от светового потока или от освещенности (рис. 4.10).
Спектральная характеристика фото p - n- перехода (фотоэлемента) — это зависимость тока короткого замыкания от длины волны падающего света. Коэффициент полезного действия фото p - n- перехода (фотоэлемента) — это отношение максимальной мощности, которую можно получить от p - n- переход, к полной мощности лучистого потока, падающего на рабочую поверхность p - n- переход: К основным процессам, приводящим к уменьшению к.п.дфото p - n- переходов, относят: -отражение части излучения от поверхности полупроводника, фотоэлектрически неактивное поглощение квантов света в полупроводнике (без образования пар носителей электрон-дырка); -рекомбинацию неравновесных носителей еще до их разделения электрическим полем выпрямляющего электрического перехода (особенно на поверхности кристалла полупроводника); -потери мощности при прохождении тока через объемное сопротивление областей p - n- перехода. В результате к.п.д. кремниевых фото p - n- переход (фотоэлементов) при преобразовании солнечного света в электрическую энергию не превышает в настоящее время 20%. Однако его можно существенно повысить, используя в качестве исходного полупроводника теллурид кадмия, арсенид галлия и другие материалы с несколько большей шириной запрещенной зоны по сравнению с кремнием, а также используя фотоэлементы на основе гетеропереходов.
|