Оценить инструментальную погрешность интерферометра, вызванную остаточными аберрациями измерительной ветви.
1. Калабеков Б.А. Цифровые устройства и микропроцессорные системы. М.: Радио и связь, 1997. 2. Угрюмов Е.П. Цифровая схемотехника. СПб.: БХВ, 2000, 2004. 3. Уэккерли. Проектирование цифровых устройств. 2 т. 4. Бойко В.И. и др. Схемотехника электронных систем. Цифровые устройства. СПб.: БХВ-Петербург, 2004. 5. Токхейм Р. Основы цифровой электроники. М.:Мир, 1988. 6. Пухальский Г.И., Новосельцева Т.Я. Цифровые устройства. СПб.:Изд-во «Политехника», 1996. Московский государственный технический университет Им. Н.Э. Баумана _________________________________________________ Факультет Радиоэлектроники и лазерной техники Кафедра “Оптико-электронные приборы научных исследований” (РЛ3) Домашнее задание №3 По дисциплине “Оптические измерения”
На тему “Компенсационный метод контроля формы асферических поверхностей» Номер студента по списку __ 23 _
Студент гр. РЛ2 – 83 ___ Шевяхов Д. С. __ (фамилия, и., о.)
Преподаватель Лазарева Н.Л. (фамилия, и., о.)
“Зачтено”: __________ ___________________ (баллы, дата) (подпись преподавателя)
Г. Задача № 4
Для контроля формы АП оптической детали со световым диаметром D и толщиной d применяется интерферометр, схема которого дана на рис. 4. Контролируемая поверхность описывается уравнением вида: x 2 + y 2 + a 1 z + a 2 z 2 + a 3 z 3 = 0. Источник в интерферометре – He-Ne лазер, излучающий на длине волны l =0,6328 мкм. В качестве эталон-компенсатора используется менисковая линза, выпуклая поверхность которой компенсирует аберрации нормалей контролируемой АП, а вогнутая поверхность выполняет функцию эталона. Линза установлена вплотную к контролируемой поверхности. Толщина и показатель преломления стекла эталон-компенсатора даны в таблице 4. Рассчитать параметры и характеристики измерительной ветви интерферометра в следующей последовательности: 1) для крайнего луча, идущего в сторону эталон-компенсатора, вычислить продольную аберрацию нормали Δs’n, а также угол j наклона нормали к оптической оси; 2) вычислить расстояние s – удаление вершины гомоцентрического пучка лучей, которые падают на компенсирующую поверхность; 3) вычислить радиус кривизны компенсирующей поверхности r к эталон- компенсатора; 4) с учетом толщины эталон-компенсаторавычислить радиус кривизны rэ эталонной поверхности компенсатора ; 6) вычислить остаточные аберрации компенсационной системы в автоколлимационном ходе лучей (для пяти лучей) и построить график зависимости остаточных волновых аберраций от тангенсов апертурных углов лучей, входящих в измерительную ветвь интерферометра. Примечание: остаточные волновые аберрации вычислять с помощью компьютерной программы для расчета реальных лучей через оптическую систему.
Начертить схему оптической системы измерительной ветви (в масштабе) с ходом лучей и сводкой конструктивных параметров. Сделать вывод о возможности реализации полученного результата. Оценить инструментальную погрешность интерферометра, вызванную остаточными аберрациями измерительной ветви. Таблица 1. Исходные данные к задаче 4
Решение 1) Уравнение контролируемой поверхности x 2 + y 2 + 490 z + 0,78 z 2 + 0,005z 3 = 0 Радиус ro кривизны поверхности при вершине равен
Эксцентриситет e поверхности равен Вогнутая асферическая поверхность (АП). Рис. 1. К выводу зависимости продольной аберрации нормали от угла наклона к оси Координата крайнего луча, идущего в сторону эталон-компенсатора:
Для определения угла наклона нормали к оптической оси и продольной аберрации нормали к оптической оси необходимо вычислить координату z. Для этого решим уравнение поверхности, приняв x=0. С помощью ПО MathCad обнаруживаем, что уравнение имеет один вещественный корень и два мнимых. Решением примем вещественный.
Для определения угла Выразим из неё
Продольную аберрацию нормали найдём из соотношения
2) 3) Вычислим радиус кривизны компенсирующей поверхности r к эталон-компенсатора по формуле
|