Студопедия Главная Случайная страница Обратная связь

Разделы: Автомобили Астрономия Биология География Дом и сад Другие языки Другое Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Металлургия Механика Образование Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Туризм Физика Философия Финансы Химия Черчение Экология Экономика Электроника

Рабочее задание. 3.3.1. Снять осциллографическим методом семейство статических выходных характеристик транзистора в схеме с ОЭ Iк =f (Uкэ) при 4-х базовых токах





 

3.3.1. Снять осциллографическим методом семейство статических выходных характеристик транзистора в схеме с ОЭ Iк =f (Uкэ) при 4-х базовых токах:

- собрать схему, приведенную на рис. 12.

- включить источник постоянного тока. Установить определенный ток базы. Получить ВАХ на экране осциллографа. Переснять ее на масштабную форматку, предварительно поместив начало характеристики в левом верхнем углу осциллографа.

- Установить другие значения тока базы и зарисовать последовательно соответствующие ВАХ, помещая начала их в одной точке.

- Отключить приборы в следующей последовательности: генератор сигналов, источник постоянного напряжения. Затем провести градуировку по току и напряжению по описанной методике.

3.3.2. Снять осциллографическим методом семейства статических входных характеристик транзистора в схеме с ОЭ Uбэ = f (Iб) при 4-х коллекторных напряжениях.

 

 

 


Рис.13 Схема для снятия входных характеристик транзистора в схеме с ОЭ и вид характеристик

- Собрать схему, приведенную на рис. 13.

- Включить источник постоянного напряжения. Установить определенное коллекторное напряжение. Получить ВАХ на экране осциллографа. Переснять на новую масштабную форматку.

- Установить последовательно другие значения коллекторного напряжения. Последовательно зарисовать ВАХ на форматку, совмещая начала характеристик.

- Отключить приборы в следующей последовательности: источник питания, генератор сигналов. Затем провести градуировку по току и напряжению (Iб=Uбэ/Rб).

3.3.3. Снять осциллографическим методом семейство статических выходных характеристик транзистора в схеме с ОБ Iк =f (Uкб) при 4-х значениях эмиттерного тока.

- собрать схему, приведенную из рис.14.

- Включить источник постоянного напряжения. Установить последовательно определенные значения тока эмиттера и зарисовать на новую форматку семейство выходных характеристик. Провести градуировку.

Рис.14 Схема для снятия выходных характеристик транзистора в схеме с ОБ и вид характеристик

 

 

 


Рис.15 Схема для снятия входных характеристик транзистора в схеме с ОБ и вид характеристик

 

3.3.4. Снять осциллографическим методом семейство статических входных характеристик транзистора в схеме с ОБ при 4-х значениях коллекторного напряжения.

- Собрать схему, приведенную на рис.15.

- Включить источник постоянного напряжения. Установить определенные значения напряжения на коллекторе и зарисовать на новую форматку семейство входных характеристик. Провести градуировку.

3.3.5. Перенести снятые семейства на миллиметровую бумагу в увеличенном масштабе. Из характеристик определить динамический диапазон по входу и выходу транзистора, включенного по схеме с ОБ и ОЭ, считая Rк =0,5 кОм.

3.3.6. Определить из характеристик H- параметры для каждой схемы включения. Сравнить их.

3.3.7. Рассчитать H- параметры транзистора для схемы с ОБ по H – параметрам, определенным экспериментально для схемы с ОЭ, и сравнить с экспериментальными H- параметрами для схем с ОБ.

Отчет

 

Отчет должен содержать:

4.1. Исследуемые схемы, рабочие задания и методику измерений.

4.2. Форматки и графики семейства статических характеристик.

4.3. Расчеты, указанные в пунктах 3.3.5-3.3.7. Выводы.

 

Контрольные вопросы

 

5.1. Какой полярности подаются напряжения на эмиттерный и коллекторный переходы?

5.2. Что называется явлением инжекции и при каких условиях оно возникает?

5.3. Объяснить с точки зрения физических процессов передачу тока из эмиттера в коллектор.

5.4. Чем объясняется обратный ток?

5.5. Почему транзистор чаще всего характеризуют H-параметрами?

5.6. Объяснить ход статических характеристик в схемах с ОЭ и ОБ, уметь объяснить разницу.

5.7. Как выбирается рабочая точка транзистора?

5.8. Чем отличается нагрузочная прямая от динамической?

Литература

 

6.1. Манаев Е.И. Основы радиоэлектроники. М.: 1990.

6.2. Ушаков В.М. Электроника. М.: 1993.

6.3. Степаненко И.П. Основы микроэлектроники. М.: 2000.


Лабораторная работа №3

 







Дата добавления: 2015-10-01; просмотров: 432. Нарушение авторских прав; Мы поможем в написании вашей работы!




Картограммы и картодиаграммы Картограммы и картодиаграммы применяются для изображения географической характеристики изучаемых явлений...


Практические расчеты на срез и смятие При изучении темы обратите внимание на основные расчетные предпосылки и условности расчета...


Функция спроса населения на данный товар Функция спроса населения на данный товар: Qd=7-Р. Функция предложения: Qs= -5+2Р,где...


Аальтернативная стоимость. Кривая производственных возможностей В экономике Буридании есть 100 ед. труда с производительностью 4 м ткани или 2 кг мяса...

Йодометрия. Характеристика метода Метод йодометрии основан на ОВ-реакциях, связанных с превращением I2 в ионы I- и обратно...

Броматометрия и бромометрия Броматометрический метод основан на окислении вос­становителей броматом калия в кислой среде...

Метод Фольгарда (роданометрия или тиоцианатометрия) Метод Фольгарда основан на применении в качестве осадителя титрованного раствора, содержащего роданид-ионы SCN...

Мотивационная сфера личности, ее структура. Потребности и мотивы. Потребности и мотивы, их роль в организации деятельности...

Классификация ИС по признаку структурированности задач Так как основное назначение ИС – автоматизировать информационные процессы для решения определенных задач, то одна из основных классификаций – это классификация ИС по степени структурированности задач...

Внешняя политика России 1894- 1917 гг. Внешнюю политику Николая II и первый период его царствования определяли, по меньшей мере три важных фактора...

Studopedia.info - Студопедия - 2014-2025 год . (0.008 сек.) русская версия | украинская версия