Задачи для самостоятельного решения. 2.1. Пленочный резистор представляет собой кремниевую пластину толщиной 25,4 мкм, равномерно легированную фосфором с концентрацией 1017 см-3 и бором с
2.1. Пленочный резистор представляет собой кремниевую пластину толщиной 25,4 мкм, равномерно легированную фосфором с концентрацией 1017 см-3 и бором с концентрацией 5×1016 см-3. Вычислите сопротивление этого резистора. Считать, что подвижность электронов в полупроводнике равна см2 ×В-1×с-1. 2.2. Конденсатор образован кремниевым p-n -переходом Концентрация акцепторов, равная 1016 см-3, значительно меньше концентрации доноров. Площадь обкладок конденсатора 129 мм2. К конденсатору приложено напряжение 1,5 В. Диэлектрическая проницаемость кремния равна 12. 2.3. Пленочный резистор интегральной микросхемы создан путем диффузии атомов фосфора в эпитаксиальный слой p- типа, легированный с концентрацией . Оказалось, что после перераспределения примесей при температуре 1000 °С глубина p-n -перехода 2,5 мкм. Вычислите поверхностное сопротивление слоя пленки, полученное в процессе диффузии, если соответствующая удельная проводимость равна Ом-1×см-1. 2.4. В условии задачи 2.3. найдите длину резистора сопротивлением 2 кОм, если его минимальная ширина составляет 6,1 мкм. 2.5. Пленочный резистор интегральной микросхемы создан путем диффузии атомов фосфора в эпитаксиальный слой p- типа, легированный с концентрацией . Глубина p-n -перехода 2 мкм. Удельная проводимость равна Ом-1×см-1. Найдите длину резистора сопротивлением 1,5 кОм, если его минимальная ширина составляет 10 мкм. 2.6. МДП-транзистор с каналом n-типа имеет следующие параметры: Nа = 1017 см-3, Q ss = 8·10-8 Кл/см2; jМП = − 0,95 эВ. Толщина слоя окисла d = 100 нм. Вычислите пороговое напряжение. 2.7. Сравнить максимальную возможную емкость конденсатора размерами 100×100 мкм, выполненного в виде МДП-конденсатора (С1), с емкостью конденсатора таких же размеров на обратно смещенном р - n -переходе (С2). Принять поле пробоя окисла равным 8×106 В/см, рабочее напряжение ‑ равным 10 В. p-n -переход изготавливается путем диффузии бора в кремний n -типа проводимости с примесной концентрацией 1016 см-3. 2.8. МДП-конденсатор имеет подложку с концентрацией примеси 2.9. МДП-структура создана на кремниевой подложке р -типа. Концентрация акцепторной примеси Na = 1015 cм-3, толщина оксидного слоя d составляет 120 нм, затвор выполнен из алюминия. Вычислите пороговое напряжение, если известно, что поверхностная плотность заряда составляет 4,8×10-8 Кл/см2. 2.10. МДП-структура сформирована на кремневой подложке р -типа с концентрацией акцепторной примеси Na = 1015 cм-3. Толщина оксидного слоя d составляет 1,2 мкм, затвор выполнен из алюминия. Плотность поверхностного заряда на границе раздела окисел-полупроводник Q ss = 8×10-8 Кл/см2. Найдите пороговое напряжение. 2.11. МДП-конденсатор имеет подложку с концентрацией примеси 2.12. Вычислить барьерную емкость германиевого полупроводникового 2.13. Найти барьерную емкость германиевого p-n -перехода, если удельное сопротивление p -области 3,5 Ом·см. Контактная разность потенциалов U к = 0,35 В. Приложенное обратное напряжение U обр = ‑ 5 В, площадь поперечного сечения 1 мм2, ε = 16. 2.14. Удельная проводимость p -области германия с резким p-n -переходом σ;р = 10 См/см, а удельная проводимость n -области σ;n = 1 См/см, относительная диэлектрическая проницаемость ε = 16. В равновесном состоянии U к = 0,35 В. Найти барьерную емкость перехода, имеющего площадь поперечного сечения S = 0,05 мм2, U обр = ‑ 10 В. 2.15. Решить задачу 2.14. для кремния. 2.16. Определить барьерную емкость p-n -перехода в германии, кремнии и арсениде галлия, если концентрация доноров в n -области равна концентрации акцепторов в p -области N Ge = 2,0·1021 м-3, N Si = 1,5·1021 м-3, N GaAs = 4,0·1021 м-3. 2.17. Решить задачу 2.16. с учетом наличия смещения U пр = 2 В. 2.18. Решить задачу 2.16. с учетом обратного смещения U обр = ‑2,5 В. 2.19. В равновесном состоянии высота потенциального барьера сплавного p-n -перехода равна 0,2 В, концентрация акцепторных примесей 2.20. Кремниевый p-n -переход имеет S = 1 мм2, Сб =300 пФ, если подводится U обр = ‑10 В. Найти: а) изменение емкости, если обратное напряжение становиться U обр = ‑20 В; б) максимальную напряженность электрического поля в обедненном слое при U обр = ‑10 В (ε=12).
Тема 3
|